M.Ə. Ramazanov, A. Q. Həsənov

 
8.5.  Yoxlama sualları 
1. SZM-in əsas müxtəlifliyini deyin. 
2. AQM əsas iş üsullarını və onların təyinatını təsvir edin. 
3. SZM şəkillərinə təsir edən faktorları deyin. 
4. Faza  təzadı ölçmələri üsulu nə üçün istifadə olunur? 
5. Bioloji obyektlərin SZM tədqiqatları hansı imkanlar verir? 
 
 

Ədəbiyyat siyahısı 
 
 
 
 
221
ƏDƏBIYYAT 
 
 
1.
 
A.M.Məhərrəmov, M.Ə.Ramazanov, L.İ.Vəliyeva.  Nano-
texnologiya, Çaşıoğlu nəşriyyatı, Bakı, 2007.  
2.
 
М.Борн, Э.Вольф. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 
3.
 
Э.Руска.  Развитие  электронного  микроскопа  и  элек-
тронной  микроскопии - Нобелевские  лекции  по  фи-
зике - 1996. УФН, т. 154 (1988), вып.2, с. 243. 
4.
 
Г.Бинниг,  Г.Рорер.  Сканирующая  туннельная  микрос-
копия-от  рождения  к  юности - Нобелевские  лекции 
по физике - 1996. УФН, т.154 (1988), вып.2, с. 261. 
5.
 
B.C.Эдельман.  Сканирующая  туннельная  микроско-
пия (обзор). Приборы и техника эксперимента, 1989, 
№5, с.25. 
6.
 
В.Л.Миронов.  Основы  сканирующей  зондовой  мик-
роскопии. Учебное пособие для студентов старших 
курсов высших учебных заведений. ИФМ РАН г.Н. 
Новгород, 2004 г. -110 с. 
7.
 
Руководство пользователя прибора NanoEducator. 
8.
 
J.A.Kubby, J.J.Boland. Scanning tunneling microscopy of 
Semiconductor Surfaces. Eslevier, 1996, Surface Science 
Reports, 26 (1996) 61-204).  
9.
 
G.Binnig, C.F.Quate, Ch.Gerber. Atomic force microscope. 
Phys. Rev. Lett., 1986, Vol. 56, № 9, p.930-933. 
10.
 
Павлов  П.В.,  Хохлов  А.Ф.  Физика  твердого  тела. 
Нижний Новгород: Изд. ННГУ, 1993. 
11.
 
М.Tortonese, R.C.Barrett, C.F.Quate. Atomic resolution 
with an atomic force microscope using piezoresistive detec-
tion. Appl. Phys. Lett., 1993, Vol. 62, No. 8, p.834. 
12.
 
А.А.Ерофеев,  СВ.  Бойцов,  Т.А.Поплевкин.  Пьезокера-
мические  микроманипуляторы  для  сканирующего  тун-
нельного  микроскопа.  Электронная  промышлен-
ность, 1991, № 3, стр.54. 
“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
 
 
 
 
 
222
13.
 
А.П.Володин, А.Е.Панич. Применение пьезокерамичес-
ких  материалов  ПКР  в  низкотемпературных  сканиру-
ющих  туннельных  микроскопах.  Приборы  и  техника 
эксперимента, 1989, № 5, с.188. 
14.
 
R.C.Barrett, C.F.Quate. Optical Scan-Correction System 
Applied to Atomic Force Microscopy. Rev. Sci. Instrum. 
62(6), 1393 (1991). Имеется перевод на русский язык: Р. 
Барретт, К.Куэйт. Оптическая система коррекции раст-
ра  для  атомно-силового  микроскопа.  Приборы  для 
научных исследований, 1991, №6,с. 3. 
15.
 
J.E.Griffith, G.L.Miller, C.A.Green. A Scanning Tunneling 
Microscope with a Capacitance- Based Position Monitor. J. 
Vac. Sci. Technot. В 8(6), 2023 (1990). 
16.
 
Mizutani et. Al. A Piezoelectric-Drive Table and its Appli-
cations to Microgrinding of Ceramic Materials. Precision 
Engineering. 12(4), 219 (1990). 
17.
 
P.M.Williams, K.M.Shakesheff et al. Blind reconstruction 
of scanning probe image data. J.Vac. Sci. Technol.  В 14 
(2) p. 1557-1562 (1996). 
18.
 
А.А.Бухараев, Н.В.Бердунов, Д.В.Овчинников, К.М.Са-
лихов.  ССМ  метрология  микро-  и  наноструктур.  Мик-
ро-электроника, т. 26, № 3, с. 163 -175(1997). 
19.
 
В.И.Никишин,  П.Н.Лускинович.  Нанотехнология  и  на-
ноэлектроника. Электронная промышленность. 1991, 
№ 3, с. 4. 
20.
 
Неволин  В.К.  Основы  туннельно-зондовой  нанотехно-
логии. Учебное пособие/ М: МИЭТ, 2000 г. 
21.
 
Matsumoto К., Ishii M., Segawa К., Oka Y., Vartanian B.J., 
Harris J.S. Room temperature operation of single electron 
transistor made by the scanning tunneling microscope 
nanooxidation process for the TiO
x
/TiO system. Appl. 
Phys. Lett., 68, 34 (1996). 
22.
 
Cooper E.B., Manalis S.R., Fang H., Dai H.,Matsumoto K., 
Minne S.C., Hunt Т., Quate C.F. Terabit-per-square-inch 

Ədəbiyyat siyahısı 
 
 
 
 
223
data storage with the atomic force microscope. Appl. Phys. 
Lett., 75, 3566 (1999). 
23.
 
Рамбиди  Н.Г.,  Замалин  В.Н.  Молекулярная микроэлек-
троника:  физические  предпосылки  и  возможные  пути 
развития.  Поверхность.  Физика,  химия,  механика. 
1986, №8, с. 5. 
24.
 
Неволин  В.К.  Физические  основы  туннельно-зондовой 
нанотехнологии.  Электронная  промышленность. 
1993, №10, с. 8. 
25.
 
Дуда Р., Харт П. Распознавание образов и анализ сцен. 
М.: Мир, 1976, 511 стр. 
26.
 
Прэтт  У.  Цифровая  обработка  изображений.  М.:  Мир, 
1982, книги 1, 2, 790 стр. 
27.
 
Ярославский  Л.П.  Введение  в  цифровую  обработку 
изображений. М.: Сов.радио, 1979, 312 стр. 
28.
 
Поль  де  Крюи.  Охотники  за  микробами.  М.:  Терра. 
2001.  
29.
 
Руководство  к  практическим  занятиям  по  микробио-
логии. Под ред. Егорова Н. С. М: Наука, 1995. 
30.
 
Хоулт  Дж.,  Криг  Н.,  П.Снит,  Дж.Стейли,  С.Уильяме. 
Определитель бактерий Берджи. М.: Мир, 1997. Т. № 2. 
с.574.