M.Ə. Ramazanov, A. Q. Həsənov

SZM-in iş üsulları 
SZM-in çoxlu iş üsulları mövcuddur. Onlar zond və 
nümunə arasında qarşılıqlı təsir qüvvəsinin növlərinin, zondun 
nümunə səthi üzrə yerdəyişmə alqoritmlərinin, səthin müxtəlif 
xarakteristikalarının müxtəlif  şəkillərini almaq üçün verilənlə-
rin istifadə olunması üsullarının müxtəlifliyinin istifadə olun-
ması ilə  fərqlənir. Uyğun üsulun seçilməsi nümunənin tipi, 
çirkli olmağı və mühitindən asılı olaraq skanetmənin aparılma 
şəraitindən asılıdır.  
 
Şəkil 8-1. Zond və nümunə arasındakı F qarşılıqlı  təsir 
qüvvəsinin R məsafəsindən asılılığı. 
 
Zond və nümunə arasında təsir edən qüvvənin xarakterin-
dən asılı olaraq atom-qüvvə mikroskopunun - kontakt, kontakt-
sız, toxunmaqla kontakt (yarım kontakt) kimi müxtəlif üsulları 
vardır. Kontakt üsulunun istifadə olunmasında qəbul olunur ki, 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
190
zond nümunə  səthində sürüşür və itələmə qüvvələrinin təsir 
oblastında yerləşir. Kontaktsız üsulun istifadə olunması zamanı 
zond səthdən uzaqda və uzaqdan təsir edən cəzbetmə qüvvələ-
rinin təsir oblastında yerləşir. Yarımkontakt iş üsulunda işlə-
yərkən, zond rəqs prosesində periodik olaraq növbə ilə  həm 
cəzbetmə, həm də itələmə oblastında  olur. 
Kontakt iş üsulu 
Bu üsulda iş zond və nümunə arasında qarşılıqlı  təsir 
itələmə qüvvələrinin təsir oblastında həyata keçirilir. Bu halda 
kantilever nümunə istiqamətində əyilmiş olur. Zond nümunə ilə 
kontaktda olur, bunun nəticəsi olaraq nümunə səthinin zədələn-
məsi təhlükəsi yarana bilər və zondun tez xarab olmasına və ya 
sınmasına səbəb olar bilər. Buna görə  sərtlik  əmsalı  
1
03
,
0
÷
=
k
N/m kiçik olan kantilever istifadə olunur.  
 
Şəkil 8-2.    Kontakt iş üsulunda skanedici atom-qüvvə    
  
  mikroskopunun sxemi. İşarələnmə: 1 - zond;  
  
  2 - kantilever; 3 - skanedici; 4 - lazer; 
  
  5 - dörd seksiyalı fotodetektor; 6 - komparator;  
  
  7 - yüksək gərginlik gücləndirici blok. 
 
Səth və zond arasında təsir edən qüvvələrin ölçülməsi 
kantileverin tarazlıq vəziyyətindən  əyilməsinə görə  həyata ke-
çirilir. Atom-qüvvə zond çeviricisi-yaylı kantilever olub sonun-
da iti uclu zond olan, yüksək həssaslığa malik olmaqla ayrıca 
atomlar arasında qarşılıqlı təsir qüvvələrini qeyd etməyə imkan 
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
191
verir.  
Kantileverin kiçik əyilmələrində zond və nümunə arasında 
F qarşılıqlı  təsir qüvvəsini və zondun yerdəyişməsi z arasında 
münasibət Huk qanunu ilə  təyin olunur:
kz
F
−
=
,  burada k - 
kantileverin sərtlik əmsalıdır. 
Səth və zond arasında təsir edən qüvvənin dəyişməsi, zond 
bərkidilmiş kantileverin tarazlıq vəziyyətindən meyl etməsi baş 
verir, bu meyletmə yarımkeçirici lazer 4 və dörd seksiyalı 
fotodioddan ibarət olan xüsusi qeydetmə qurğusunda qeyd 
olunur (şəkil 8-2). Kantileverin əyilməsindən alınan  əks olun-
muş şüa dörd seksiyalı fotodetektorun mərkəzinə nəzərən yerini 
dəyişmiş olur. Beləliklə, kantileverin əyilməsinin qiyməti foto-
detektorun yuxarı  və  aşağı yarım hissəsində  işıqlanmanın 
dəyişməsinə nəzərən təyin oluna bilər.  
Komparator 6 qeydə alınmış siqnalı ilkin verilmiş  V
dayaq
 
(zond və nümunə arasındakı qarşılıqlı  təsir qüvvəsini xarakte-
rizə edən kəmiyyətlə) müqayisə edərək onun verilmiş qiymət-
dən meylinə görə korrektə edən V
koor
 siqnalını  əmələ  gətirir. 
Zondun səthlə qarşılıqlı  təsirin qiyməti zondun səthə yaxın-
laşması və səthdən uzaqlaşmasi 7 əks əlaqə sisteminin köməyi 
ilə  həyata keçirilir. Əks  əlaqə zond çeviricinin vəziyyətini 
dəyişməklə pyezogətiricini (skanedici ilə) idarə edərək, zond və 
nümunə arasındakı qarşılıqlı  təsir qüvvəsini sabit saxlayır. 
Skanetmə sahəsinin hər bir nöqtəsində (x,y) Z hündür-lükdə 
siqnalı Z-pyezogətirmə kanalından götürülür.  
Laterial qüvvə üsulu 
Kontakt rejimində  səthin relyefindən başqa, skanetmə 
prosesində zonda təsir edən  laterial qüvvələrin qeydiyyatı 
kanalından istifadə edərək (Laterial Force Mikroscopy-LFM) 
skanetmə ilə nanometr masştabda səthin tribolik xüsusiyyətləri 
haqqında məlumat almaq olar.  
Laterial qüvvə üsulunu istifadə edərkən, səth və onun üzə-
rində sürüşən zond arasındakı sürtünmə qüvvəsi tədqiq olunur. 
Zond çeviricinin iş prinsipi  AQM zond çeviricinin iş prinsipinə 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
192
oxşar olub, burada relyefin şəklinin alınması fotodetektorun (T-
B) yuxarı və aşağı sektorlarının arasındakı fərq siqnalının qey-
diyyatı hesabına formalaşır. Laterial qüvvələrin paylanmasının 
xəritəsini almaq üçün fotodetektorun (L-R) sol və sağ sektor-
larının siqnallar fərqinin seçilməsi  əsasında olur. Skanetmə 
prosesində zonda təsir edən nümunə  səthi laterial sürtünmə 
qüvvəsi 
N
F
mq
µ
=
 kimi  təyin olunur, burada N-nümunə  tə-
rəfindən zonda təsir edən qüvvənin reaksiyası, 
µ
 -  lokal 
sürtünmə əmsalıdır. 
Kantilever  şaquli müstəvidə  fırlanma deformasiyasını hiss 
edir. Bu sol və sağ fotodetektorların (şəkil 8-3.) qeyri-balans-
laşdırılmasına gətirib çıxarır. Zond nümunə  səthinə bilavasitə 
toxunur. 
µ
 sürtünmə əmsalı nə qədər böyükdürsə, o qədər də 
kantileverin gövdə  əyilməsi və L-R fərq siqnalı böyük ola-
caqdır. Beləliklə, SZM-də böyük sürtünmə əmsalı olan sahənin 
şəkli işıqlı olacaq, kiçik olan isə tutqun alınacaqdır. Adətən 
laterial qüvvələrin ölçülməsi kanalı relyefin tədqiqi ilə eyni 
zamanda işə başlayır. Fotodetektorun bütün sektorlarından 
daxil olan siqnallar eyni zamanda qeyd olunur.  
Şəkil 8-4-də səthin relyefinin şəkli göstərilmişdir. (a) və (b) 
sağlam donorun bukal epiteliçit səthdə sürtünmə qüvvələrinin 
paylanmasının xəritəsi verilmişdir. Bu halda laterial qüvvə 
üsulu ilə epitelisit hüceyrənin səthinin hamarlılığında bakte-
riyanın olduğunu aşkar etməyə imkan verir. 
Qüvvənin modulyasiyası üsulu  
Səthin relyefinin qeydə alınması ilə eyni zamanda nanometr 
masştabda nümunə səthinin mikromöhkəmliyini öyrənmək olar.  
Bu üsulda Z pyezogətirməyə (skanedici) şaquli oxu üzrə 
zondun yerdəyişməsinin və topoqrafiyasının izlənməsinin tə-
min olunması üçün sabit gərginlikdən  əlavə kantileverin məx-
susi rezonans tezliyindən çox kiçik olan 5 kHs yaxın tezlikli 
dəyişən tərkibli gərginlik verilir  və deməli zond, şaquli ox üzrə 
2-20A amplitudla rəqs edir (zond səthi oyadır və zond-səth 
qarşılıqlı təsiri yaranır).  
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
193
 
 
Şəkil 8-3. Laterial qüvvə çeviricisinin iş sxemi. 
 
 
Şəkil 8-4. Bukal epiteliositin səth hissəsinin relyefi (solda) və 
sürtünmə qüvvəsinin  şəkli (sağda). Sağ  şəkildə bak-
teriya hüceyrələrinin identifikasiyası verilmişdir. 
 
Beləliklə, zonda təsir edən dəyişən qüvvə nümunə mate-
rialın elastikliyi ilə mütənasib olub, tarazlıq vəziyyətinə  nəzə-
rən kantileverin əyilməsinə gətirir və T-B dəyişən tərkibli fərq 
siqnalının yaranması baş verir. Bu dəyişən tərkib seçilir və Z - 
modulation
 kanalına verilir. Buradan səthin mikromöh-kəmli-
yinin şəkil xəritəsi formalaşdırılır. 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
194
 
 
Şəkil 8-5. Modulyasiya qüvvəsi üsulu ilə  işləyərkən kantileverin  
əyilməsinin dəyişməsi. a - yumşaq nümunə halında;  
  b - möhkəm nümunə halında.  
 
Əgər nümunənin səthi yumşaqdırsa zondun ucu çətinliksiz 
nümunəyə daxil olur. Bu halda skanedicinin Z-ə  nəzərən yer-
dəyişməsi və zond təqribən eyni amplituda malik olacaq. Bu 
zaman fotodioddakı  fərq siqnalı çox kiçik olacaq (şəkil 8-5a). 
Möhkəm nümunə  səthini skan edərkən zond nümunə  səthinə 
daxil olarkən müqavimətə rast gələcəkdir və bu zaman kantile-
verin güclü sürətdə  əyilməsi və ya bükülməsi olacaq ki, bu 
fotodiodda fərq siqnalının artmasına səbəb olacaqdır. Beləliklə, 
nümunə səthinin möhkəmliyinin dəyişməsi fotodiodda siqnalın 
amplitudunun dəyişməsinə səbəb olacaq. Böyük amplituda sət-
hin möhkəmliyi uyğun olacaq (işıqlı hissələr), kiçik amplituda 
daha yumşaq səth uyğundur (tutqun hissələr). Beləliklə, möh-
kəmlik xəritəsinə görə  təzadı  fərqləndirmək olar. Bu nümunə-
nin təbəqələrinin gətirilmə  tərkibinin müxtəlif fazaları ilə 
şərtlənir (şəkil 8-6).  
Qeyd edək ki, verilmiş üsulda Z üzrə modulyasiya ampli-
tudu çox kiçik olur, belə ki zond itələmə qüvvələrinin təsiri 
oblastında rəqs edir. Bu nümunə səthinin relyefinin tədqiqi və 
nümunə səthinin mikromöhkəmliyinin  paylanmasının xəritəsi-
ni almaq üçün AQM kontakt üsulunu eyni zamanda reallaşdır-
mağa imkan verir. Şəkil 8-7-də  səthin relyefi (a) və nanometr 
masştabda sağlam donor epitetial yastı hüceyrənin səth hissə-
sinin möhkəmliyinin  paylanma xəritəsi verilmişdir (b).  
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
195
 
Möhkəm  
a  oblast 
    Yumşaq  
   oblast  
  Möhkəm  
oblast  
 
Şəkil 8-6. Nümunə  səthinin  elastiklik xüsusiyyətlərindən asılı 
olaraq fotodioddan alınan siqnalın amplitudunun də-
yişməsinin sxemi (kantileverin əyilməsinin dərəcəsi).  
 
 
Şəkil 8-7.  Səthin relyefi ( solda ) və bukal  epiteliositin səth 
hissəsinin mikromöhkəmlik xəritəsi ( sağda). 
 
Yarımkontakt iş üsulu  
Bu üsulda iş zond və nümunə arasındakı qarşılıqlı    təsir 
cəzbetmə qüvvələrinin təsir oblastında həyata keçirilir.  
Adətən yarımkontakt üsulu üçün I-şəkilli sərtlik  əmsalı 
m
N
k
/
100
10
÷
=
 olan  kantilever istifadə  olunur.  
      Yarımkontakt üsulunu istifadə edərkən pyezoskanedicinin z 
seksiyasına  dəyişən gərginlik verilir (şəkil 8-8). Bu kantileve-
rin həndəsi ölçülərinin dəyişməsinə səbəb olur. Dəyişən gərgin-
liyin tezliyi kantileverin məxsusi rəqs tezliyinə  bərabər 
götürülür (adətən 150-250 kHs intervalında qiymətləri dəyişir,  
rəqs amplitudu isə  bir neçə on anqstrem olur). Bunun nəticəsi 
olaraq kantilever səth üzərində rezonans tezliyi 
ω
0
 olmaqla 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
196
rəqs edir:  
      
m
k
~
0
ω
, burada m-zond-kantilever sisteminin  kütləsi, k - 
qüvvə sabitidir. 
      Nümunə səthinə zond yaxınlaşarkən kantileverin rəqslərinin 
xarakteri dəyişmiş olur, zond-nümunə qarşılıqlı  təsir qüvvəsi-
nin qradiyentinin olması  kantileverin rəqsinin rezonans tezliyi-
nin ATX dəyişməsinə  səbəb olur. Cəzbetmə qüvvələrinin ob-
lastında bu səthdən uzaqda ATX ölçmələrlə müqayisədə (şəkil 
8-8) kantileverin rəqslərinin ATX sola yerinin dəyişməsinə 
səbəb olar. Belə ki,  kantileverin məcburi rəqslərinin tezliyi sa-
bit saxlanılır və  sərbəst vəziyyətdəki  rəqslərin 
ω
0
 tezliyinə 
bərabər olur, bu zaman səthə yaxınlaşarkən kantileverin sərbəst 
ucunun rəqslərinin amplitudu azalmış olur. Bu rəqslərin ampli-
tudu optik sistem vasitəsilə qeyd olunur və bu fotodetektorun 
yuxarı  və  aşağı yarım hissəsinin işıqlanmasının dəyişməsinə 
nəzərən təyin edilə bilər. Sonra sinxron detektor 7 vasitəsilə 
skanetmə vaxtı kantileverin rəqslərinin amplituduna mütənasib 
olan V(t) sabit siqnal seçilir. Bu zaman gərginlik generatordan 
sinxron detektora 7 sinxrosiqnal verilir və skanediciyə verilən 
siqnalın rezonans tezliyinə  bərabər tezlikdə kantilever rəqs 
etmiş olur (şəkil 8-9). 
 
 
Şəkil 8-8. Kantileverin nümunə səthinə yaxınlaşması zamanı 
rəqslərin tezliyinin dəyişməsi. 
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
197
 
Şəkil 8-9.  Skanedici atom-qüvvə mikroskopunun yarımkontakt 
üsulunda iş sxemi: 1-zond; 2-kantilever; 3-skanedici; 
4-dəyişən gərginlik mənbəyi; 5-lazer; 6-dörd seksiyalı 
fotodetektor; 7-sinxron detektor; 8-komparator;  
  9-əks əlaqə elektron dövrəsi. 
 
Komparator 8 dövrədə qeydetmə qurğusu ilə  qeyd  olunan                   
siqnalı ilkin verilmiş  V
dayaq 
(zond-nümunə qarşılıqlı  təsir qüv-
vəsini xarakterizə edən) müqayisə edərək V
dayaq
 qiymətindən  
meyl etməsinə görə V
korr
 edən siqnalı əmələ gətirir. Zondla səth 
arasında qarşılıqlı  təsirin səviyyəsi  əks  əlaqə sisteminin 9 kö-
məyi ilə zond çeviricini səthə yaxınlaşdırmaq və  səthdən 
uzaqlaşdırmaqla yerinə yetirilir. Əks əlaqə zondun vəziyyətinin 
dəyişməsini istifadə edərək, pyezogətirmə idarəedicinin kömə-
yi ilə zond-nümunə qarşılıqlı  təsir qüvvəsini sabit saxlayır. 
Şəklinin hər bir (x, y) nöqtəsində Z hündürlüyü haqqında siqnal 
Z pyezogətirmə kanalından götürülür.  
Bu üsul yüksək dəqiqliklə ayırdetmə imkanı ilə yumşaq və 
yapışqanlı nümunələrin (polimer, hüceyrə  və bioloji mole-
kullar) skan edilməsi üçün idealdır və ya daha möhkəm nümu-
nələrin skan edilməsi zamanı isə zond möhkəm səthlə kon-
taktda olarkən kütləşməsinə və ya sınmasına səbəb ola bilər.  
Faza təzadı təsviri üsulu 
Tədqiq olunan nümunə səthinin relyefini əks etdirən zondun 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
198
rəqs amplitudunun dəyişməsinin qeydiyyatı ilə eyni zamanda, 
rəqslərin faza dəyişməsini aşkar etmək imkanı mümkündür.  
Rəqs prosesində zondun ucu nümunə  səthinə toxunur, 
nəinki o itələmə, həmçinin adqezion, kapillyar və bir sıra başqa 
qüvvələrin təsirlərinə  məruz qalır. Nəticədə zond və nümunə 
səthinin qarşılıqlı  təsiri həm tezliyə, həm də  rəqsin fazasına 
görə sürüşməsi baş verir. Əgər səthin ayrıca hissələri adsor-
bsiya xüsusiyyətlərinə malikdirsə, onda şəkildə  əlavə  təzada 
malik olacaqdır, bu nümunənin materialından asılı olub müx-
təlif hissələrdə özünü göstərəcəkdir. Bu zondun rəqs fazasının 
dəyişməsində özünü göstərər. Rəqsin fazasının aşkar  olunması, 
səthin relyefinin alınması ilə eyni zamanda baş verir, onda 
amplitud və faza şəkillərini müqayisə etməklə nümunənin faza 
tərkibi haqqında informasiya əldə etmək olar. Faza tərkibinin 
şəklindən titanın səthinin məsaməli  struktura malik olmasını 
görmək olar, bu implantantda sümük saplarının yetişdirilmə-
sində zəruridir.  
Faza təzadı üsulu geniş sahədə  tətbiq olunmasından qiy-
mətli məlumat, bəzi hallarda şəkillərinin qeyri-adi təzadlı  ma-
terialın xüsusiyyətləri haqqında məlumat  əldə etməyə imkan 
verir. Bu üsul, məsələn bioloji obyektlərin, maqnit və elektrik 
xarakteristikaları olan nümunələrin  tədqiqi üçün istifadə oluna 
bilər və i. a.  
SZM şəkillərinə  təsir edən faktorlar  
Zondun həndəsi parametrlərinin ayırdetməyə təsiri 
SZM - in hər bir X, Y və Z oxları üzrə maksimal ayırdetmə 
qabiliyyəti müxtəlif faktorlarla təyin olunur.  
Z oxu üzrə ayırdetmə aşağıdakılarla məhdudlanır:  
-Kantileverin əyilməsini qeyd edən optik sistemin həssaslığı ilə  
-Nümunə səthinə nəzərən zondun rəqslərinin amplitudu ilə. 
XY - müstəvisində maksimal ayırdetmə  hər  şeydən  əvvəl 
zondun işləmə dəqiqliyi ilə təyin olunur.  Ən əsası zondun ucu-
nun həndəsi xarakteristikaları ilə bağlıdır. Atom müstəvi səth-
lərin skan edilməsi zamanı, ayırdetmə zondun ucundakı ato-
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
199
mun ölçüləri ilə  məhdudlaşır (şəkil 8-11). Beləliklə, zondun 
makroskopik forması atom səviyyəsində ayırdetmə üçün təyin-
edici deyildir.  
 
 
Şəkil 8-10. Titan diş implantantının hissəsinin səthinin relyefi 
(sağda),  faza tərkibinin şəkli (solda).  
 
Relyefin çoxlu detallarının müqayisəli aşkarlığı vaxtı, şəklin 
keyfiyyəti iynənin həndəsi parametrləri ilə təyin olunur. Kritik 
olanları bunlardır: zondun sonunun əyrilik radiusu R və zondun 
hündürlüyünün onun oturacağının diametrinə olan 
W
L nisbəti 
(şəkil 8-13). 
Zondun xüsusiyyətlərinin təsiri 
      Atom-qüvvə mikroskopunda zond-nümunə qarşılıqlı  təsir 
qüvvəsi elastiki kantileverin əyilməsinə görə ölçülür. Kantile-
verin ən mühüm xarakteristikaları-qüvvə sabiti (sərtlik əmsalı) 
və rezonans tezlikdir. Qüvvə sabiti zond və nümunə arasında 
kontaktda olarkən qüvvəni təyin edir və öz növbəsində kan-
tileverin forması və hazırlandığı materialın növü ilə təyin olu-
nur. Kontakt üsulu üçün çox kiçik qüvvə sabiti olan çox yum-
şaq kantilever istifadə olunur. 
Yarımkontakt iş üsulunda sərt kantilever (qüvvə sabitinin 
böyük qiymətlərində) yumşaq kantileverə nəzərən böyük rezo-
nans tezliyinə malikdir. Rezonans tezlik kantileverin ölçülərin-

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
200
dən və materialdan asılı olur. AQM üçün istifadə olunan kanti-
leverlərin rezonans tezliyi  
500
15
÷
kHs diapazonda  dəyişir.  
 
Tədqiq olunan nümunənin səthi 
Şəkil 8-11. Axırıncı atomun effekti. 
 
 
Şəkil   8-12. Zondun  həndəsi  parametrləri. 
 
Şəkil  8-13. 
W
L
 parametrinin sonlu qiyməti və iynə ucunun əyrilik 
radiusunun təsirinin nəticəsinin səth profilinin şəklin-
dəki təhrifləri. 
 
Nümunə səthindəki adsorbsiya təbəqəsinin SZM zondla 
qarşılıqlı təsir  qüvvəsinə təsiri 
Havada nümunə  səthi həmişə  adsorbsiya olunmuş atom-
ların  nazik təbəqəsi ilə örtülmüş olur. Bu  təbəqə sudan və ha-
vanın başqa komponentlərindən, həmçinin nümunənin hazır-
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
201
lanması zamanı kontaktda olduğu maddələrin atomlarından,  
çirklənmələrdən və i.a. ola bilər. Təbəqənin qalınlığı müxtəlif 
şəraitlərdən, məsələn, havanın rütubətindən asılı olaraq 
nm
50
2
÷
 intervalı daxilində dəyişə bilər.  
Zondun ucunun adsorbsiya təbəqəsinə toxunarkən kapillyar 
cəzbetmənin nəticəsində güclü cəzbetmə qüvvənin komponenti 
yaranmış olur. Kapillyar cəzbetmə effekti, həmçinin iynə səth-
dən uzaqlaşarkən çox güclü hiss olunur. Bu hal da tez-tez ka-
pillyar qüvvələr zondu səthə yaxın yerdə elə möhkəm saxlayır 
ki, bu zondu nümunədən qoparmaq əvəzinə çox vaxt kantile-
verin zədələnməsinə səbəb olur (nümunə sanki yapışqanlıdır). 
 Zondun ucunun forması da zond və adsorbsiya təbəqəsi 
arasında  qarşılıqlı təsirin xarakterinə güclü təsir edir. Kapillyar 
qarşılıqlı  təsir qüvvəsi böyük əyrilik radiusu və 
w
L
 nisbəti ki-
çik olan zondların istifadə olunması zamanı  güclü hiss olunur. 
Əksinə iti uclu və R-əyrilik radiusunun kiçik qiymətləri  üçün, 
zond kapillyar qüvvələrin təsirini az hiss edir, bu adsorbsiya 
təbəqəsinin kontakt sahəsinin az olmasına və  səthdən zondu 
asanca qoparmağa imkan verir.  
 
Şəkil 8-14.  Nümunə  səthində zondun adsorbsiya təbəqəsi ilə 
qarşılıqlı təsiri/  
 
Nümunənin materialının təsiri  
Nümunənin materialı zond və nümunə  səthi arasındakı 
qarşılıqlı təsir qüvvələrinin xarakterinə güclü təsir edir. Belə ki, 
müxtəlif materiallar müxtəlif adsorbsiya sabitlərinə malikdir və 

“Nanotexnologiyadan laboratoriya  işləri”. Dərs vəsaiti  
 
202
deməli adsorbsiya təbəqəsinin əmələ gəlməsinə meyllilik müx-
təlifdir. Bundan əlavə  bəzi materiallar statistik elektrik sahəsi 
yığmağa meyllidir, bu iynə ilə  səth arasında qarşılıqlı  təsir 
qüvvəsinə hiss olunacaq dərəcədə  təsir edə bilər və AQM 
ölçmələrin aparılmasını çətinləşdirər.  
Preparatların hazırlanması və SZM - də tədqiqi  
Bu işdə skanedici zond mikroskopunun su mühitlərində 
mikrobiosenozların tədqiqində istifadə olunması  təklif olunur: 
adı su və distillə edilmiş su.  
Nümunənin hazırlanması: 
Su nümunəsi  əvvəlcədən yağı  təmiz silinmiş 1-2 həftəlik 
ekspozisiyalı dibində qoruyucu şüşə yerləşdirilmiş Petri finca-
nına tökülür. Petri fincanını bağlayıb 17
0
S-dən 20
0
S qədər tem-
peraturda inkubasiya edirlər. Sonra şüşə çıxarılır, təmiz yuyulur 
(bir neçə  dəfə preparat distillə olunmuş su olan stəkana salıb 
çıxarılır ) və qurudulur.  
Sonra preparatın bir neçə hissələrində ümumi skanetmə 
prosesi aparılır, suyun mikrobiotları  son dərəcədə  müxtəlifliyi 
ilə fərqlənir.  
I. Distillə olunmuş su.
  Şəkil 8-15, şəkil 8-16-da distillə edil-
miş suda 1-2 həftə  ərzində inkubasiya zamanı alınmış prepa-
ratların ümumi skan edilmiş  şəkilləri verilmişdir. Adi suda 
inkubasiya olunmuş  şüşə ilə müqayisəyə görə, qoruyucu şüşə 
kifayət qədər “təmiz” alınmış, mikroorqanizmlərin lokal yığıl-
ması qeyd olunmuşdur.  
Bir neçə ümumi skan edilmiş şəkilləri alıb müşahidə edirik 
ki, distillə olunmuş suda olan preparatlarda 4 növ mikroorqa-
nizmlər müşahidə olunur:  
-
 
çubuq formalı yetişmiş mikroorqanizmlər; 
- dairə şəkilli zəncirdə yerləşən mikroorqanizmlər; 
- düzgün çubuq formalı ayrıca yerləşən hüceyrə; 
- spiral formalı dartılmış mikroorqanizmlər. 
Skanedici zond mikroskopunun köməyilə suyun mikroflorasının öyrənilməsi 
 
 
203
 
Şəkil 8-15. Distillə edilmiş suda alınmış preparatın ümumi skan 
edilmiş şəkli: İnkubasiya - 1 həftəlik. 
 
Skanetmə oblastının ölçülərini kiçildib, maraq kəsb edən 
hər bir mikroorqanizmləri skanedərək (cədvəl 8-1) bundan 
sonra  NanoEducator  proqramının alətlərinin köməyi ilə hü-
ceyrələrin ölçüləri  təyin edilir: 
Distillə olunmuş suda tapılmış mikrobiotlar əsasən bakte-
riya formasında təsvir olunmuşdur. Bakteriyaların mənsubiyyət 
qrupunu və formalarını  təyin etmək üçün Berci təyinedicisin-
dən istifadə olunmuşdur [30]. Skanedici zond mikroskopun 
bakteriyaların morfoloji strukturu və onların  ölçülərinin  dəqiq 
təyin edilməsi üçün unikal vasitədir. Onların təsnifatını vermək 
üçün bakteriyaların morfologiyasına (forması və bakteriyaların 
ölçüləri) əsaslanılır. Bundan əlavə, mikroorqanizmlərin yaşama 
mühiti və temperatur rejimləri nəzərə alınmışdır (su, adi or-
qanik birləşmələr və 17
0
S-dən 22
0
S-yə qədər temperatur).