Rastrli elektron mikroskopiya. Rastrli elektron mikroskop (rem)- ishlash asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi

Rastrli elektron mikroskopiya. Rastrli elektron mikroskop (REM)- ishlash asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi. Namuna yuzasiga tushadigan elektronlar tuplami modda bilan o‘zaro ta’sirga kirishadi, buning oqibatida bir qator fizik xodisalar paydo bo‘ladi. Muvofiq datchiklar yordamida u yoki bu nurlanishni (masalan, ikkilamchi elektronlar) qayd qilib va kineskopga signallarni berib ekranda namuna yuzasini tasvirlashning relyefli kartinasi hosil qilinadi. REM ning ajratish qobiliyati namuna bo‘yicha skanerlovchi elektron nur kesimiga bog‘liq: nur qanchalik ingichka bo‘lsa, kattalashtirish shunchalik kattadir. REM-50 da erishilgan eng yaxshi ajratish-100A, ya’ni 1 sinf oddiy elektron mikroskopdan deyarli 10 marta kam.
Ammo, REM ning katta yutug‘i 0.6-0.8 mm ga yetadigan keskinlikning nixoyatda yuqori chuqurligi hisoblanadi. Bu holat REM da massiv ob’yektlar yuzasini o‘rganish imkoniyatini beradi. Tekshirilayotgan namuna qandaydir alohida tayyorgarlikni talab qilmaydi: u asbobga tajriba g‘oyasi bo‘yicha zarur bo‘lgan holatda joylashtiriladi. REM dagi qotib qolgan sement toshning tasviri rasmda keltirilgan. Boshqa usullar. Elektron mikroskopiya yuqori (20000 S gacha) va quyi (-1800 S gcha) haroratlarda kristallar shakli va tuzilishini tekshirishda ham qo‘llanilgan. Bunday tekshirishlarning o‘tkazilishi maxsus qizdiruvchi va sovituvchi qurilmalarni yaratish zaruriyatiga, shuningdek, ob’yektlarni ishlab chiqish uslublarining o‘zgarishiga olib keladi. 1