Јурилиш материаллари ва конструкциялрини тадіиі этиш ва

1.15-rasm. Elektron mikroskopdagi 
nurlarning harakatlanish sxemasi: 
1-katod (elektron to‘p); 2-anod (anod 
diafragmasi); 3-magnit linza (kondensator 
g‘altagi);
4-preparat-ob’yekt joylashgan tekislik; 5-magnit 
linza (ob’yektiv g‘altak); 6- flyuoressensiya 
qiluvchi ekranli oraliq tasvir tekisligi; 7-magnit 
linza (tasvir g‘altagi); 8- flyuoressensiya qiluvchi 
ekran va fotokassetali oxirgi tasvir tekisligi. 
 
 
 
 

---

46 
Mikroskop ostida tekshirilishi kerak bo‘lgan preparat elektronlar uchun shaffof 
bo‘lishi kerak. Elektronlarning yutilishiga yo‘l qo‘yilmaydi,chunki preparatning o‘ta 
qizishi va yemirilishini keltirib chiqarishi mumkin. Elektronlar preparat orasidan 
o‘tib, modda atomlari bilan uriladi va buning oqibatida sochiladi. Bunda, elektronlar 
og‘adigan burchak preparatning zichligi va qalinligiga bog‘liq holda o‘zgaradi. 
Preparatning yupqa uchastkalari elektronlarni kamroq sochadi,shuning uchun ular 
orqali o‘tadigan zarralarning zich tuplami ob’yektning bu joylarini ekranda jadal 
yorug‘lanishini keltirib chiqaradi. Aksincha, preparatning qalin va zich uchastkalari 
ular orqali o‘tadigan elektronlarning ko‘p qismini katta burchaklarga sochadi, buning 
natijasida ular ob’yektiv linzasining aperturali diafragmasi bilan uzib tashlanadi. 
Preparatning bunday uchastkalari ekranda kulrang va qora ranglarga ega. 
1.4.2. Elektron mikroskop ostida tekshirish usullari 
Tekshirishning bevosita va bilvosita usullari o‘zaro farqlanadi. Bevosita 
usullarga tirqish uchun ishlashning yorug‘ maydonli va qorong‘i maydonli usullari, 
bevosita usullarga-replikalar usuli bilan tekshirish kiradi. 
Bevosita usullar 10
5
mm tartibidagi mayda zarralar yoki yupqa qatlamlar 
ko‘rinishida hosil qilish mumkin bo‘lgan ob’yektlarni tekshirishda qo‘llaniladi: 
submikrokristallar, kolloidlar, loylar,tutunlar va shu kabilar.
Yorug‘ maydon 
bo‘yicha ishlaganda elektronlar qismi ob’yektiv linzadan 
to‘siksiz o‘tadi va to‘g‘ri, og‘magan nur ko‘rinishida flyuoressentli ekranga tushadi. 
Ob’yektning o‘tishida uning zich kristalli uchastkalariga tushgan va ohirgilari 
tomonidan sochilgan elektrodlar flyuoressensiya qiluvchi ekranga yetib bormaydi va 
oxirgi tasvirni hosil qilishda ishtirok etmaydi. Ekrangacha to‘siqsiz yetib borgan 
nurlar unda shakli bo‘yicha ob’yektning zich qismlariga javob beruvchi uchastkalar – 
qorong‘i joylarni o‘rab olgan yorug‘ fonning hosil bo‘lishini ta’minlaydi. 
Yorug‘ maydonli usul ushbu mikroskop uchun maksimal kattalashtirishga 
erishish imkonini beradi. 
Qorong‘i maydon usuli bo‘yicha ishlaganda aperturali diafragmadan faqat 
namuna tomonidan sochilgan eletronlargina o‘tadi, bunda ekranda shakli bo‘yicha 
zich (“sochuvchi”) zarralariga javob beruvchi yorug‘ uchastkalarni o‘rab olgan 
qorong‘i maydon kuzatiladi.

---

47 
Qorong‘i maydon metodining xususiyati tasvirning yuqori konstranstligidir. 
Qorong‘i maydon usulidan foydalanib, qo‘rib chiqilayotgan materialning 
moddalarining kristall yoki amorf sinfiga tegishliligini aniq belgilash mumkin, bu suv 
bilan birikkan yangi hosilalar va aralashmaning komponentlarini ajratishda ayniqsa 
muhimdir.