Ўзбекистон Республикаси Олий ва ўрта махсус таълим вазирлиги Бухоро давлат университети

nd
C
r

3
3
4

; kub shaklidagi zarracha 
uchun V=1
3
yoki 
3
1
V

; sferik zarracha uchun 
3
3
4
r
V


yoki 
3
4
3

V
r

bo`ladi. 
Kolloid zarrachalarning shaklini electron mikroskop yordamidagina aniqlash mumkin.
1943 yilda elektron mikroskop kashf qilindi. Elektron mikroskopda yorug`lik nuri o`rnida 
elektronlar oqimidan foydalaniladi, chunki ularni elektromagnitlar yordamida boshqarish qulay. 
Bu mikroskopda katoddan chiqqan elektronlar oqimi elektromagnit g`altakning magnit 
maydoniga kiradi. Bu maydon elektronlarni zichlashtiradi, tekshirilayotgan jismga yuboradi. 
Elektronlar jismning zich qismlaridan kam, zich bo`lmagan qismlaridan ko`p o`tib, ikkinchi va 
uchinchi magnit maydonlariga boradi, natijada ekranda yoki fotoplastinkada jismning 
kattalashgan tasviri hosil bo`ladi.
Kolloid zarrachalarining ichki strukturasi va uning turli jarayonlar vaqtida o`zgarishi 
rentgenograf va elektronograf usullari yordamida aniqlanadi. Kolloid sistemalarni tekshirishda 
bu usullarning biri roentgen nurlarining, ikkinchisi esa elektronlar oqimining qo`llanilishiga 
asoslangan. Rentgenograf usulidan foydalanib, kolloid zarrachalarning ichki tuzilishi haqida 
ma`lumot olish mumkin. kolloid zarracha o`lchamlari nihoyatda kichik bo`lganligi uchun kolloid 
sistemalarning rentgenograf yordamida olingan monokristallar qo`llanilishiga asoslangan Laue 
diagrammalari u qadar aniq chiqmaydi; ko`pincha bu sohada Debay-Sherrer diagrammalarini 
hosil qilish bilan chegaralanadi. Debay – Sherrer diagrammalarini tekshirish yo`li bilan xilma-xil 
kolloidlarning ko`pchiligi kristall tuzilishga ega ekanligini aniqlash mumkin bo`ldi. Ayniqsa 
o`gir metallarning zollari va ularning birik,alarinidan hosil bo`lgan zollarni tekshirish samarali 
natijalar berdi. Buning sababi shundaki, rentgen nurlari og`ir metal atomlariga tushganda nur 
nihoyatda kuchli yoyiladi. Bu hodisaga dispersion muhit u qadar halal bermaydi. 
4. Ultramikroskop tuzilishini animatsiyasini ko`rsatish. 
5. Nefelometriya metodi.
―Opalestsensiya‖ hodisasiga asoslanib, kolloid eritmalarning konsentratsiyasini va 
kolloid zarrachalarning o`rtacha o`lchamini aniqlaydigan asbob – nefelometr deb ataladi (10-
rasm). Agar ma`lum nur manbaidan foydalanilsa, aniq dispers faza va aniq dispersion muhitlar 
uchun Reley tenglamasiga kiradigan ba`zi kattaliklar (n
1
, n
2
, λ, ρ) o`zgarmay qoladi. shundan 
Reley tenglamasi quyidagi qisqa shaklni oladi: 
0
I
V
C
K
I




Bu yerda: 
const
n
n
n
n
p
K












2
2
2
2
1
2
2
2
1
4
3
2
24


Nefelometrik tekshirishlar uchun ikkita bir xil silindrik idish olib (4,5), ularning biriga 
konsentratsiyasi ma`lum (standart) kolloid eritma, ikkinchisiga tekshirish uchun berilgan kolloid 
eritma solinadi. Ikkala idish bitta yorug`lik manbaidan yoritiladi (1). Bu vaqtda ikkala idishda 
Tindal effekti vujudga keladi. Kolloid eritmalardan tarqalgan nur asbobning tepa qismidagi 
okulyarga tushadi (10). Sinaladigan kolloid eritmaning konsentratsiyasi standart kolloid eritma 
konsentratsiyasiga teng bo`lmasa, ikkala kolloid eritmalardan tarqalgan yorug`likning 
intevsivligi har xil bo`ladi; natijada okulyarda ko`rinadigan ikkita yarim doiraning biri yorug`roq 
va ikkinchisi qorong`iroq bo`ladi. Kolloid eritmalardan tarqalgan yorug`likning intensivligi 
zolning konsentratsiyasiga proportsional bo`lgani uchun sinaladigan va standart kolloid eritmaga 

---

tushgan nurlar bir xil sonli zarrachalardan tarqalgandagina okulyardagi ikkala yarim doira bir 
xilda yoritiladi. Silindrik shisha idishlardan birini (2,3) (maxsus moslama yordami bilan) 
yuqoriga ko`tarish yoki pastga tushirish orqali idishdagi kolloid eritmalarning yoritiladigan 
balandliklarini o`zgartirib ikkala yarim doirani birdek yoritishga erishish mumkin. faraz qilaylik, 
bu balandliklar h
1
va h
2
bo`lib, ikkala eritmadagi kolloid zarrachalarning hajmlari bir-biriga teng 
bo`lsin, u holda ikkala eritma uchun K`=KV=const bo`ladi. Doiraning ikkala yarim qismlari bir 
xilda ravshanlikka ega bo`lganligi sababli: 
I
1
=I
2
=K`
.
C
1
.
I
01
=K`
.
C
2
.
I
02
tenglikka ega bo`lamiz. Bu yerda I
01
– sinalayotgan eritmadagi yorug`lik kuchi, I
02
– standart 
kolloid eritma solingan idishdagi yorug`lik kuchi, C
1
– sinaladigan eritma konsentratsiyasi, C
2
– 
standart kolloid eritma konsentratsiyasi. Yuqoridagi tenglamani o`zgartirib, quyidagicha 
yozamiz: 
1
2
2
01
02
2
1
h
h
C
I
I
C
C


demak, 
1
2
2
1
h
h
C
C

asosida C
1
ni hisoblay olamiz.
6. Nefelometr tuzilishini animatsiyasini ko`rsatish. 
III. Yakuniy qism (10 min) 
Uyga vazifa berish. Takrorlash uchun savollar. 
1. Tindal-Faradey effekti nimadan iborat? 
2. Ultramikroskop tuzilishini tushuntirib bering. 
3. Elektron mikroskop, rentgenograf, elektronograflarning ahamiyati nimadan iborat? 
4. ―Opalestsensiya‖ tushunchasini izohlab bering. 
5. Nefelometr nimani aniqlaganda qo`llaniladi?