6. Quyosh elеmеntlari konstruksiyalari.
Keng tarkalgan kremniy asosidagi QE lari konstruksiyasi qarama-qarshi tipdagi r- va p-
materialning bir-biriga yaqin tutashtirishdan hosil qilinadi. YAO‘ material ichidagi r- va p-tip
materiallar orasidagi o‘tish sohasi (chegara xududi) elektron-teshik yoki n-p o‘tish deyiladi.
Termodinamik muvozanat holida elektron va teshiklar muvozanat holatini belgilovchi Fermi
sathi materialda bir xil holda bo‘lishi kerak. Bu shart n-p o‘tish hududida ikkilangan zaryadli
qatlam hosil qiladi va uni hajmiy zaryad qatlami deyilib, unga taaluqli elektrostatik potensial
paydo bo‘ladi.
n-p tizilma sirtiga tushgan optik nurlanish sirtdan material ichiga qarab n-p o‘tish
yo‘nalishiga perpendikulyar ravishda konsentratsiyasi kamayib boruvchi elektron-teshik
juftliklar hosil qiladi. Agar sirt yuzasidan n-p o‘tishgacha bo‘lgan masofa nurning kirish
chuqurligidan (1/ά dan) kichik bo‘lsa, elektron-teshik juftliklar n-p o‘tishdan ichkarida ham
hosil bo‘ladi. Agar n-p o‘tish juftlik hosil bo‘lgan joydan diffuzion uzunlikchalik masofa yoki
undan kamroq masofada bo‘lsa, zaryadlar diffuziya jarayoni natijasida n-p o‘tishga yetib
kelib, elektr maydoni ta’sirida ajratilishi mumkin. Elektronlar n-p o‘tishning elektron bor
bo‘lgan qismiga (p-qismiga), teshiklar r-qismiga o‘tadi. Tashqi n- va p-sohalarni
birlashtiruvchi elektrodlarda (kontaktlarda) potensiallar ayirmasi hosil bo‘lib, natijada ulangan
yuklanma qarshiligi orqali elektr toki oqa boshlaydi.
n-p o‘tishga diffuziyalangan asosiy bo‘lmagan zaryad tashuvchilar, potensial to‘siq
bo‘lganligi sababli, ikkiga ajratiladi. Ortiqcha hosil bo‘lgan (to‘siq yordamida ajratilgan) va
to‘plangan, p-sohadagi elektronlar va r-sohadagi teshiklar n-p o‘tishdagi mavjud hajmiy
zaryadni kompensatsiya qiladi, ya’ni mavjud bo‘lgan elektr maydoniga qarama-qarshi elektr
maydonini hosil qiladi. Yoritilish tufayli tashqi elektrodlarda potensiallar ayirmasi hosil
bo‘lishi bilan birga yoritilmagan n-p o‘tishdagi mavjud potensial to‘siqning o‘zgarishi ro‘y
beradi. Hosil bo‘lgan foto-EYUK bor bo‘lgan potensial to‘siq qiymatini kamaytiradi. Bu esa
o‘z navbatida qarama-qarshi oqimlarning paydo bo‘lishini ta’minlaydi, ya’ni elektron
qismdan elektronlar oqimini, r-qismdan teshiklar oqimini hosil qiladi. Bu oqimlar
3-rasm. Yoritilmagan n-p o‘tishli yarim o‘tkazgichda energetik zonalar strukturasi (a),
elektrostatik potensial taqsimoti (b). 2l – fazoviy zaryad sohasining kenglini, UE – r- va p-
sohalar chegarasidagi muvozanat xol uchun elektrostatik potensial, Eg – man qilingan soha
kengligi, shtrixlangan chiziq – muvozanat holi uchun Fermi sathi. n-p o‘tishga qo‘yilgan
elektr kuchlanishi ta’siri natijasida to‘g‘ri yunalishdagi tok bilan deyarli teng bo‘ladi.
Yoritilish jarayoni boshlangan vaqtdan boshlab ortiqcha (muvozanatdagiga nisbatan)
zaryadlarning to‘planishi (elektronlarning p-sohada va teshiklarning r-sohada) potensial to‘siq
balandligini kamaytiradi, yoki boshqacha qilib aytganda elektrostatik potensialni pasaytiradi
(3-Rasmga qarang). Bu esa o‘z navbatida tashqi yuklanmadan oqayotgan tok kuchini oshiradi
va qarama-qarshi oqimlar hosil qiluvchi elektronlar va teshiklar oqimini n-p o‘tishdan
o‘tishini ta’minlaydi. Yorug‘lik tufayli hosil bo‘lgan ortiqcha juftliklar soni n-p o‘tish yoki
tashqi yuklanma orqali ketayotgan juftliklar soniga teng bo‘lganda statsionar muvozanat hosil
bo‘ladi. Odatda bu hol yoritilish jarayonining mingdan bir soniyasi davomida ro‘y beradi.
QE qisqa tutashuv toki Ikz ni, tushayotgan optik nurlanish zichligi va spektral tarkibidan
o‘rganish element tuzilmasi ichida bo‘layotgan alohida har bir nurlanish kvantining elektr
energiyasiga aylanish jarayoni samaradorligi haqida tasavvur hosil imkoniyatini beradi. QE
uchun ma’lum yorug‘lik oqimi zichligi tushayotgan hol uchun quyidagi tenglamani keltirish
mumkin.
Ikzyu(λ) = Ikzt(λ)/[1-r(λ)] (3)
bu yerda Ikzt(λ) va Ikzyu(λ) – QE qisqa tutashuv tokining qiymati, berilgan intensivlikdagi
tushayotgan va yutilgan nurlanish uchun, r(λ)- birlamchi qaytish koeffitsiyenti. Keltirilgan
uchchala kattaliklar xam bir xil to‘lqin uzunligi bo‘lgan hol uchun to‘g‘ridir.
QE ni tahlil qilish va sifatini baholash uchun uning Ikz tokining spektral xarakteristikasini
yutilgan har bir kvant nur uchun hisoblangani o‘ta muhimdir. Bu kattalikni quyosh
elementining effektiv kvant chiqishi deyiladi va Qeff bilan belgilanadi. Agar No – YAO‘
material sirtining birlik yuzasiga tushayotgan kvantlar soni bo‘lsa, u holda
Qeff = Ikz/ No (4)
bo‘ladi, bu yerda Ikz elektron soniyada o‘lchanadi, va Qeff elektron kvant (foton)larda
olinishi kerak.
QE effektiv kvant chiqishi ikki parametrga bog‘lik bo‘lib, u
Qeff = βγ (5)
β-ichki fotoeffektning kvant chiqishidir. Bu kattalik har bir yutilgan kvant uchun
fotoionizatsiya jarayonida YAO‘ ichida hosil
bo‘ladigan elektron-teshik juftliklarni ko‘rsatadi. γ – n-p o‘tish potensial to‘siqining tok
tashuvchilarni yig‘ish (jamlash) koeffitsiyentidir, yoki boshqachasiga aytganda tok
tashuvchilarning ajratish koeffitsiyenti ham deyiladi. Bu koeffitsiyent optik nurlanish
yordamida hosil bo‘lgan umumiy juftliklardan qancha qismi qisqa tutashuv tokida ishtirok
etishini ko‘rsatadi. Tashqi o‘lchash asbobi ulangan hol uchun, β=1 bo‘lsa, har bir kvant bitta
juftlik hosil qila olishini ko‘rsatadi.
Har xil to‘lqin uzunlikka ega bo‘lgan optik nurlanish, materialda har xil chuqurlikka kira
oladi (kvantlarning chuqurlikka kirish qobiliyati ularning energiyasiga bog‘likdir). YAO‘
materiallarda yutilgan kvantlar hisobiga hosil bo‘lgan
Rasm 4.Har xil to‘lqin uzunlikka ega bo‘lgan nurlanishning kremniy asosidagi n-p o‘tishga
perpendikulyar tushgan hol uchun hosil bo‘lgan elektron-teshik juftliklarining taqsimlanishi.
1- λ =0,619 mkm, α=2000 sm-1; 2- λ =0,81 mkm, α=700 sm-1; 3- λ =0,92 mkm, α=90 sm
-1
.
elektron-teshik juftliklar materialda fazoviy taqsimot hosil qiladi (4-rasm ga qarang). Hosil
bo‘lgan juftliklarning keyingi taqdiri YAO‘ ateriallarning diffuzion yo‘li uzunligiga
bog‘likdir. Agar bu parametr kattaligi yetarlicha bo‘lsa, u holda nurlanish tufayli hosil bo‘lgan
ortiqcha asosiy bo‘lmagan zaryad tashuvchilar faqat diffuziya jarayoni tufayli n-p o‘tishga
kelib uning elektr maydoni orqali ajratilishi mumkin. Optik nurlanishni aylantirilishi
jarayonida muhim rolni elektronlarning diffuziya yo‘li uzunligi( Lp ) va n-p utish chuqurligi
(ℓ ) uynaydi, chunki hosil bo‘layetgan va ajratilishi kerak bo‘lgan juftliklar ularga bog‘liqdir.
Rasm 5. Yarim o‘tkazgichli kristallda n-p o‘tishlarning joylashish sxemalariga qarab (a)
perpendikulyar va (b) parallel n-p o‘tish tekisligi uchun optik nurlanishning tushishi. Ln, Lp –
r- va p – sohalarda asosiy bo‘lmagan zaryad tashuvchilarning diffuzion uzunliklari; ℓ - yarim
o‘tkazgichda nurlanishning kirish chegarasi; shtrixlangan sohalar – r- va p-sohalardagi metall
kontaktlarning ko‘rinishi.
Optik nurlanishning YAO‘ materialga tushish yo‘nalishiga qarab n-p o‘tish
konstruksiyasining ikki xili mavjud va ularni quyidagi 5- rasmda keltirilgan holi uchun ko‘rib
o‘tamiz.
1-hol. Optik nurlanish yo‘nalishiga n-p o‘tish perpendikulyar joylashgan hol. Optik nurlanish
qalinligi l ga teng bo‘lgan YAO‘ materialning butunlay oxirigacha kiradi.
2-hol. Optik nurlanish yo‘nalishiga n-p o‘tish parallel joylahgan hol. Nurlanish kengligi d ga
teng bo‘lgan tuzilmaga tushadi.
Perpendikulyar va parallel joylashgan n-p o‘tishlar uchun yig‘ish (jamlash) koeffitsiyenti
(effektivligi) quyidagi munosabatlar bilan aniqlanadi.
γ = ( Lp +Lr)/ ℓ (6) va γ == ( Lp +Lr)/d (7)
bu yerda, Lr – teshiklarning diffuziya yo‘li uzunligi.
Birinchi qarashda n-p o‘tishning parallel joylashishi afzalroq ko‘rinadi, chunki hosil
bo‘lgan zaryad juftliklarini to‘laligicha yig‘ish va ajratish uchun YAO‘ material qalinligiga va
n-p o‘tishga nisbatan ularning taqsimlanishi muhimdir. YAO‘ ichida juftliklarning material
chuqurligiga nisbatan bir tekis hosil bo‘lishi ularning n-p o‘tish tomon diffuziya hodisasi
orqali ajratilish jarayoni uchun o‘ta muhimdir. Shuning uchun, ko‘p n-p o‘tishlarga ega
bo‘lgan QE larda (fotovoltlar-ko‘p sonli mikro QE lardan iboratlarda), ularning n-p o‘tishlari
tushayotgan optik nurlanishga parallel joylashtiriladi. Optik nurlanishning uzun to‘lqinli
qismida, bu konstruksiya zaryad tashuvchilarning yig‘ishning yuqori samaradorligiga ega
bo‘ladi, hamda bir birlik yuzadan katta miqdordagi foto-EYUK olishga imkon yaratadi.
Ammo, asosiy muammolardan biri bo‘lib, nisbatan kichkina o‘lchamli parallel joylashgan
n-p o‘tishlarga ega bo‘lgan mikro QE larida rekombinatsiya hodisasining perpendikulyar
joylashgan n-p o‘tishlarga nisbatan kattaligi nazariy va amaliy jihatdan aniqlandi. Shuning
uchun, bu turdagi QE uchun quyosh nurlanishiga qaratilgan yuzasida qisqa to‘lqinli nurlar
spektral effektivligini oshirish uchun, qo‘shimcha kirishmalar kiritilgan teskari tipdagi
o‘tkazuvchanlikka ega bo‘lgan =ushimcha yupqa qatlam hosil qilish maqsadga muvofiqdir.
Ya’ni, yana qisman perpendikulyar konstruksiya elementiga qaytish maqsadga muvofiqdir.
Parallel joylashgan n-p o‘tishli QE larida hosil bo‘lgan elektron-teshik juftliklar
konsentratsiyasi (M) material yuzasidan ichkarisiga qarab o‘zgaradi. Perpendikulyar
joylashgan n-p o‘tishli QE konstruksiyasi uchun esa p-tipdagi material uchun ham r-tipdagi
uchun ham hosil bo‘layotgan juftliklarning aksariyati n-p o‘tishga yaqin joyda hosil bo‘ladi.
Hosil bo‘ladigan elektron-teshik juftliklar birlik chuqurlikda quyidagi tenglama orqali
aniqlanadi.
M = No α exp(-αℓ) (8)
bu yerda, No-bir birlik yuzaga tushayotgan kvantlar soni. Juftliklar soni, ichkariga qarab
kamayib boradi. Ularning sonini YAO‘ materialda yutilishi mumkin bo‘lgan sohada α (Ye) ni
aniqlash mumkin. Shunday hisoblashlarning kremniy uchun
natijasi, bir necha qiymatga ega bo‘lgan to‘lqin uzunliklari uchun quyidagi 5-rasmda berilgan.
P- va r-tip materialdagi zaryad tashuvchilarning diffuzion uzunliklari sohalarini chegaralagan
vertikal chiziqlar, n-p o‘tish perpendikulyar bo‘lgan hol uchun zaryad tashuvchilar jamlash
jarayonini baholash imkonini beradi. Chiziqlar ordinatalari α exp(-αℓ) ga proporsional bo‘lib,
abssissalar esa YAO‘ material yoritilgan yuzasidan ichkariga kirish chuqurligini ko‘rsatadi.
O‘klar orasidagi chiziqlar bilan chegaralangan yuzalar – tushayotgan kvantlar oqimiga teng,
ordinatalar bilan chegaralangan yuzalar ℓ = ℓd ℓn va (ℓd +ℓn ) (shtrixlangan qism) – qisqa
tutashuv tokini ko‘rsatadi. Shunday qilib, shtrixlangan yuzaning umumiy yuzaga nisbati ichki
fotoeffekt kvant chiqishini aniqlovchi ifodaga asosan (β = 1 hol uchun) yig‘ish effektivligini
beradi.
Quyosh elementlarining planar konstruksiyasi ( optik nurlanish tuzilma yuzasiga
perpendikulyar tushgan hol) QE texnologiyasida va ularni amaliy ishlatishdagi asosiy
konstruksiyadir. Bunday QE har xil YAO‘ materiallar asosida ishlab chiqildi .Yuqorida
keltirilgan tahlillar asosida yuqori samarali optimallahgan konstruksiyalar ishlab chiqildi.
Ammo har qanday material uchun ham ularga qo‘yiladigan yuqorida keltirilgan asosiy
talablar saqlab qolinishi kerakligi aniqlandi. γ ni va Ikz oshirish uchun n-p o‘tishning ikkala
tomonida xam albatta diffuzion uzunlikni oshirish maqsadga muvofiqdir. Buni amalga
oshirish uchun kerakli material tanlash va n-p o‘tishni texnologik tayyorlash jarayonida
diffuzion uzunlikni pasaymasligiga harakat qilish kerak. Agar uning pasayshi aniq bo‘lsa uni
hisobga olish zarurdir. Agar Ld ni frontal sirtda oshirish imkoniyati bo‘lmasa, u holda frontal
sirt qalinligini Lp>>ℓ ga amal qilgan holda olish kerak. Shu asosda baza parametrlarini
tanlash zarurdir.
Dostları ilə paylaş: |