5-amaliy mashg’ulot bir XIL aniqlikdagi o’lchash vositalarini solishtirish tahlili ishning maqsadi

Solishtirishlar natijalarini rasmiylashtirish
Qatnashuvchi-korxonalarni solishtirish protokollari va o'lchash natijalarini tahlili asosida tashkilotchi-korxona solishtirishlar natijalarini guvohnoma ko'rinishida rasmiylashtiradi.Guvohnomaning shakli 4-ilovada keltirilgan.
Tekshiruv vositalarini metrologik xarakteristikalarini nazorat qilishda guvohnomada quyidagilar ko'rsatiladi.
Agar solishtiriladiga ntekshiruv vositalarini metrologik xarakteristikalari qo'yimli qiymatlardan oshmasa, unda ularning metrologik statusi tasdiqlanadi.
Agar solishtiriladigan tekshiruv vositalarini metrologik xarakteristikalari qo'yimli qiymatlardan oshsa, unda bu tekshiruv vositalarini metrologik xarakteristikalarini tekshirish (tuzatishlar kiritish yo'li bilan aniqlashtirish) yoki ularning metrologik statusini pasaytirish bo'yicha tavsiyalar beriladi.
Solishtiriladigan tekshiruv vositalarini metrologik xarakteristikalarini aniqlashda guvohnomada tasodifiy xatolikning xarakteristikasi, tizimli va chiqarilmagan tizimli xatoliklar ko'rsatiladi.
Solishtirishlar haqidagi guvohnomalarni tashkilotchi-korxona qatnashuvchi-korxonalarga yuboradi.
Solishtirish talablariga ko'ra tajriba ma'lumotlarini har bir guruhini statistik qayta ishlash natijasida amalga oshirilgan. O'lchanadigan kattalikning nominal qiymati 100,000 Om. Olingan statistik baholardan foydalanib, har bir qurilma uchun tizimli xatoliklarni baholash mumkin. Ular mos ravishda quyidagilarga teng
η₁=0,001, η₂=0,024, η₃=-0,002,η₄=-0,023, η₅=-0,028.
Agar tizimli xatolik uni aniqlash xatoligidan katta bo'lsa, uni hisobga olish kerak bo'ladi. U holda quyidagi tengsizliklar bajarilishi lozim:

buerdaηi – i-chiqurilmaningtizimlixatoligi; t – Styudentkoeffisienti, P=0,95 ehtimolvaf=n-1=9-1=8 erkinlikdarajalarisoniuchun 2,3 gateng;  - i-chiqurilmadagio'lchashnatijasiningo'rtachakvadratikchetlanishi.
№ 1 qurilma uchun:
η₁=0,001; Δ₁=2,3*0,012=0,028;
0,001<0,028.
№ 2 qurilma uchun:
η₂=0,024; Δ₂=2,3*0,005=0,012;
0,024>0,012.
№ 3 qurilma uchun:
η₃=-0,002; Δ₃=2,3*0,0097=0,022;
|-0,002|<0,022.
№ 4 qurilma uchun:
η₄=-0,023; Δ₄=2,3*0,001=0,0023;
|-0,023|>0,0023.
№ 1 qurilma uchun:
η₅=-0,028; Δ₅=2,3*0,008=0,018;
|-0,028|>0,018.
Demak, faqat № 2, 4, 5 qurilmalar η2=0,024; η4=-0,023; η5=-0,028 tizimli xatoliklarga ega. Qolgan qurilmalarning tizimli xatoliklariga ahamiyat bermasa ham bo'ladi.
Beshta tekshiruv vositasini metrologik xarakteristikalarini nazorat qilish natijasida quyidagi ma'lumotlar olindi
S₁=0,036, η₁=0,
S₂=0,016, η₂=0,024,
S₃=0,029, η₃=0,
S₄=0,026, η₄=-0,023,
S₅=0,024, η₅=-0,028.
Qurilmalarning metrologik xarakteristikalari uchun qo'yimli o'rtacha kvadratik chetlanishni chegarasiσ_npни 0,04 ga, qo'yimli tizimli xatolikni chegarasi η_npни 0,03 ga teng deb olamiz.
U holda qurilmalarning har biri uchun hisoblangan metrologik xarakteristikalar yuqorida ko'rsatilgan qo'yimli chegaralardan kichik bo'ladi, demak tekshiriladigan qurilmalar o'zining metrologik statusini saqlab qoladi.
Bir xil aniqlikdagi qo'shaloq qurilmaga asosan qayta ishlash natijalarini quyidagi ko'rinishda berish mumkin:

S₁²+S₂²=0,000367; S₂²+S₁²=0,000367; S₃²+S₁²=0,000282; S₄²+S₁²=0,000667;
S₁²+S₃²=0,000282; S₂²+S₃²=0,000131; S₃²+S₂²=0,000131; S₄²+S₂²=0,000185;
S₁²+S₄²=0,000667; S₂²+S₄²=0,000185; S₃²+S₄²=0,000518; S₄²+S₃²=0,000518;
S₁²+S₅²=0,000019; S₂²+S₅²=0,000283; S₃²+S₅²=0,000177; S₄²+S₅²=0,000501;
S₅²+S₁²=0,000019; S₅²+S₂²=0,000283; S₅²+S₃²=0,000177; S₅²+S₄²=0,000601.
Dispersiyalar baholari qiymatlari talabiga ko'ra (6) formula bo'yicha har bir solishtiriladigan o'lchov vositasi tasodifiy xatoligi dispersiyasi bahosini hisoblaymiz.

Mos ravishda,

Eng kichik kvadratlar usulini xatoligini talabiga ko'ra hisoblangan baholarning o'rtacha kvadratik chetlanishi  quyidagiga teng

O'rtacha kvadratlar usulini xatoligini talabiga ko'ra o'rtacha kvadratik chetlanishlarni qo'yimli qiymatlarini chegaralari (omlarda) mos ravishda quyidagiga teng

O'rtacha kvadratlar usulini xatoligiga ko'ra (7) formula bo'yicha yig'indini aniqlaymiz

№ 3 qurilma eng kichik xatolikka ega, chunki
ayirma modul boyicha eng kichik qiymatga ega.
Bir xil aniqlikdagi qo'shaloq o'lchash vostilari talablariga ko'ra № 2, № 3, № 4, № 5 qurilmalarni tizimli xatoliklari mos ravishda quyidagiga teng bo'ladi
η₁=0,007; η₃=0,005; η₅=-0,021.
η₂=0,031; η₄=-0,017.(8) tengsizlikni bajarilishini ko'ramiz.
O'lchashlar natijalari dispersiyalari baholarini hisoblaymiz

Styudent koeffisienti П=0,95 va Ф=8 bo'lganda 2,3 ga teng.
№ 1 qurilma uchun

№ 2 qurilma uchun

№ 4 qurilma uchun

№ 5 qurilma uchun

Yuqorida keltirilgan hisoblashlar va (8) tengsizlikni tekshirish shuni ko'rsatdiki, № 2, 5 qurilmalarni qiymatlariga  tuzatishlarni kiritish mumkin ( ₂=-0,033,  ₄=-0,027,  ₅=0,021). № 1, 3, 4 qurilmalarni ko'rsatishlariga tuzatishlar kiritish maqsadga muvofiq emas. Solishtiriladigan qurilmalarni har birini chiqarilmagan tizimli xatoliklarini oldindan aniqlab olish lozim. Masalan, agar № 5 qurilmaga tuzatishlar kiritilsa, unda bu tuzatishlarning xatoliklarini № 2, 5 qurilmalarning chiqarilmagan tizimli xatoliklari soniga kiritish lozim.
Bir xil aniqlikdagi qo'shaloq qurilma talabiga ko'ra solishtiriladigan o'lchov vositalarini metrologik xarakteristikalari quyidagi ko'rinishda beriladi:
№ 1 qurilma uchun η₁=0; σ_1,пp=0,023;
№ 2 qurilma uchun η₂=0,031; σ_2,пp=0,012;
№ 3 qurilma uchun η₃=0; σ_3,пp=0,017;
№ 4 qurilma uchun η₄=0; σ_4,пp=0,033;
№ 5 qurilma uchun η₅=-0,021; σ_5,пp=0,016.
Bir xil aniqlik darajasidagi SVCH-74 turdagi vaqt va chastota standartlarini 5 tasini misol qilib solishtirib ko'ramiz:
Qiyoslash qurilmalarining solishtirish natijalarini qayta ishlash
Juftli solishtirish qiyoslash qurilmasi (kk) va ularning natijalarini qayta ishlash quyidagicha amalga oshiriladi.
Solishtiriladigan Kklarning L soni ikkitadan ko'p bo'lishi kerak. Biz ko'rib chiqayotgan holatda L = 5. Juftli solishtirishlarni quyidagi sxema bo'yicha o'tkazishadi
∆₁₂=Х₁-Х₂
∆₁₃=Х₁-Х₃; Х₂₃=Х₂-Х₃;
∆₁₄=Х₁-Х₄; Х₂₄=Х₂-Х₄; ∆₃₄=Х₃-Х₄; 
∆₁₅=Х₁-Х₅; Х₂₅=Х₂-Х₅; ∆₃₅=Х₃-Х₅; Х₄₅=Х₄-Х₅; (10)
Buyerda х_i– х_j – i-chivaj-chisolishtirladiganQQko'rsatkichlarifarqi.
Juftli solishtirishda o'lchanadiganlar sonini o'lchash natijasi berilgan aniqligi va tasodifiy xatoliklar (ТФ) S_∑ (yig'indili o'rta kvadratik og'ish) va solishtiriladigan Qqlarning sistematik xatoliklari orasidagi munosabatiga qarab tanlash kerak.θ/S_∑<8 tengsizlik bajarilganidan o'lchashlar soni n<(64·S_∑/θ) dan katta bo'lmagan qilib olinishi tavsiya etiladi, bu erda S_∑ = – juftli solishtiriladigan Qqlarning o'rta kvadratik og'ishi va S₁, S₂ – juftli solishtiriladigan QQlarning o'rta kvadratik og'ishi (O'KO). Biz ko'rib chiqayotgan solishtirishdan o'lchovlar soni 9 ga teng qilib tanlangan. Chastota va vaqt standartlari misolida i-chi va j-chi solishtiriladigan QQlarning farqi 2-jadvalda ko'rsatilgan.
2-jadval – chastota va vaqt standartlarining juftli solishtirish natijalari