Јурилиш материаллари ва конструкциялрини тадіиі этиш ва

Dekodlash usuli 
vakuumli changlatish usuli bilan konglomerat yoki 
monokristall yuzasi (odatda yangi sinish)ga tekshirilayotgan material bilan kimyoviy 
birikishni hosil qilmaydigan oz miqdordagi modda bilan qoplashdan iborat. Natijada 
miqdori yaxlit monomalekulyar plenkasining hosil bo‘lishi uchun kerakli darajadan 
kam bo‘lgan namilenniy modda faqat ob’yekt yuzasining faol qismlarida 
(nuqsonlar,bog‘lamalar va sh.k.) to‘planadi va bu bilan ularni ko‘zga ko‘rinarli qiladi, 
(ularni bezaydi). Mineralogik ob’yektlarni oltin bilan dekodlash metodi keng 
tarqalgan. Dekodlash, masalan kaolinit konglomeratini dekodlashdagi operatsiyalar 
ketma-ketligi quyidagicha: konglomerat yangi yuzasini ochish uchun uni qo‘l bilan 
ushatiladi, material bo‘laklaridan biri vakuum uskunaga joylashtiriladi va yuzasini 
aralashmalar va yopishib qolgan bo‘lakchalardan tozalash uchun 15-40 min 
davomida 300-450
0
S gacha qizdiriladi. Qizdirish tugaganidan keyin bir necha 
minutdan keyin vakuumni buzmasdan oltinni changlatish amalga oshiriladi, keyin 
yuzasiga ko‘mir plenkasi (replika) tushiriladi, uning ajratilishi namunani o‘lchov 
kislotada eritish yo‘li bilan amalga oshiriladi. 
Elektron mikrofraktografiya 
sun’iy tayyorlangan shlifning tasodifiy tekisligini 
emas, ob’yektlarning yemirilishi, siniqlari va shu kabilarda kelib chiqadigan tabiiy 
yuzasini tekshiradi. Bu usuldan foydalanib, turli qattiq jismlarning yemirilishi 
sabablari va xarakterini o‘rganish mumkin. Elektron optikaga xos katta chuqurlikdagi 
keskinlik elektron mikrofraktografiyaning yutug‘idir.Sinishlar ko‘pincha ko‘mir 
replikalar yordamida tekshiriladi. 
Rastrli elektron mikroskopiya
. Rastrli elektron mikroskop (REM)- ishlash 
asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) 
ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi. Namuna yuzasiga tushadigan 
elektronlar tuplami modda bilan o‘zaro ta’sirga kirishadi, buning oqibatida bir qator 
fizik xodisalar paydo bo‘ladi. Muvofiq datchiklar yordamida u yoki bu nurlanishni 
(masalan, ikkilamchi elektronlar) qayd qilib va kineskopga signallarni berib ekranda 
namuna yuzasini tasvirlashning relyefli kartinasi hosil qilinadi. 
REM ning ajratish qobiliyati namuna bo‘yicha skanerlovchi elektron nur 
kesimiga bog‘liq: nur qanchalik ingichka bo‘lsa, kattalashtirish shunchalik kattadir. 
REM-50 da erishilgan eng yaxshi ajratish-100A, ya’ni 1 sinf oddiy elektron 
mikroskopdan deyarli 10 marta kam.

---

51 
Ammo, REM ning katta yutug‘i 0.6-0.8 mm ga yetadigan keskinlikning 
nixoyatda yuqori chuqurligi hisoblanadi. Bu holat REM da massiv ob’yektlar 
yuzasini o‘rganish imkoniyatini beradi. 
Tekshirilayotgan namuna qandaydir alohida tayyorgarlikni talab qilmaydi: u 
asbobga tajriba g‘oyasi bo‘yicha zarur bo‘lgan holatda joylashtiriladi. REM dagi 
qotib qolgan sement toshning tasviri rasmda keltirilgan. 
Boshqa usullar
. Elektron mikroskopiya yuqori (2000
0
S gacha) va quyi (-180
0
S 
gcha) haroratlarda kristallar shakli va tuzilishini tekshirishda ham qo‘llanilgan. 
Bunday tekshirishlarning o‘tkazilishi maxsus qizdiruvchi va sovituvchi qurilmalarni 
yaratish zaruriyatiga, shuningdek, ob’yektlarni ishlab chiqish uslublarining 
o‘zgarishiga olib keladi.