242
γ- defetoskopiya – materiallar va buyumlardagi
nuqsonlarni ularni
γ - nurlar bilan yoritilib topish usuli. γ - nurlanishlarni qayd etish usullariga bog‘liq
rengeno-
defektoskopiya uslubiga o‘xshash γ - defetoskopiyaning uchta usuli
farqlanadi: γ - garfiya, radiometrik usul va fluoroskopik (vizual) usul.
γ - grafiya usuli shundan iboratki, sinalayotgan materialdagi ichki nuqsonlarni
aniqlash rentgen plyonkasi yordamida amalga oshiriladi. Buning uchun,
radioaktiv
manba tanlanadi va materialning zichligiga, yoritilayotgan qatlamning qalinligiga va
boshqa ma’lumotlarga bog‘liq holda nomogrammalar quriladi, ularga ko‘ra mazkur
materialni yoritish uchun zarur bo‘lgan vaqt aniqlanadi.
γ - grafik usul rentgonografik usuldan sezgirligi
pastligi bilan farq
qiladi,biroq rentgenografik usuldan foydalanish mumkin bo‘lmaganda keng
qo‘llaniladi.
Nazorat qilishning radiometrik (ionazatsion) usuli shundan iboratki,
tekshirilayotgan material nazorat qilishning rentgenografik va rentgenoskopik
us
ullaridan farqli ravishda (bunda nazorat qilinayotgan buyum γ
- nurlanishning
keng dastasi bilan yoritiladi) γ - nurlanishning tor dastasi bilan yoritiladi. Tor
nurlanishlar dastasini nazorat qilinayotgan buyum bo‘yicha siljita borib, uning barcha
alohida qismlari yoritiladi. Material orqali o‘tgan nurlanishlar hisoblagich yordamida
qayd etib boriladi va
elektr signaliga aylantiriladi, uning amplitudasi γ -
nurlanishlarning intensivligiga proporsional. Nazorat qilishning bu usuli yuqori
sezgirlikka ega va ayniqsa kata qalinlikdagi buyumlarni nazorat qilishda yuqori
unumdorlikka egadir.
Sinashning
fluoroskopik (vizual) usuli
sinalayotgan material katta faollikka ega
bo‘lgan radioaktiv manba nurlari bilan yoritishiga asoslangan. Nazorat qilinayotgan
buyumning tasviri fluoroskopik ekranga proyeksiyalanadi va televizion qurilma
yordamida xavfsiz masofaga uzatiladi. Bu usulning
sezgirligi rentgenoskopiya
usulnikiga nisbatan ancha past.
Neytron- defetoskopiya
– materiallar va buyumlarning sifatini neytron
nurlanish yordamida aniqlash usulidir. Materiallar defetoskopiyasida radioaktiv
manbalardan olinadigan neytronlardan foydalaniladi. Radioaktiv manbalar sifatida
radiy, poloniy, plutoniy va boshqalardan foydalaniladi.
Berilgan parametrlik neytornlar dastalarini shakllantirish sekinlashtirgichlar va
kallimatsiya sistemalari yordamida amalga oshiriladi.
243
Neytronlarning tezligini sekinlashtirish uchun
sekinlashtirgichlar - suv, parafin,
kadmiy va h. k. lardan foydalaniladi.
Neytorn defetoskopiyada γ - defetoskopiyadagi
kabi nazorat qilishning ikki usuli – radiografik va radiometrik usullari bo‘lishi
mumkin. Biroq neytronlar oddiy rentgen plenkada qiyin tutiladi, shuning uchun
neytron radiografiyada neytronlarni plyonkaning
sezgirligi neytron nurlarga
qaraganda ko‘proq bo‘lgan nurlanishning boshqa ko‘rinishlariga (α- nurlanish, β -
nurlanish, elektromagnit va h.k.) aylantiruvchi ekran – konvertorlar (lyuminessent
kuchaytiruvchi ekranlar) qo‘llaniladi.
Neytorn defetoskopiya usuli qalinligi kata bo‘lgan materiallar va buyumlarni,
plastmassa buyumlarni, shuningdek turli jinsli materiallardan tayyorlangan
buyumlarni yoritish uchun foydalaniladi.
Dostları ilə paylaş: