Xələfli A. A

§ 59. Simmetrik elektrik profilləməsi (SEP) 
Bu üsulla iş vaxtı əsasən simmetrik dörd elektrodlu qurğudan 
istifadə olunur. Bu qurğu profil boyunça hərəkət etdirilir, qurğunun 
addımı çox hallarda MN elektrodları arasındakı məsafəyə bərabər 
olur (şəkil 58). Simmetrik qurğudan aşağıdakı məsələləri həll etmək 
üçün istifadə olunur: a) qırışıqlı strukturların planalınması, bu 
struktur öz tərkibində dayaq (istinad) elektrik layı saxlamış olmalıdır; 
b) birdən-birə kəskin duşən hədəflərin planalınması, daykaları, kvars 
damarlarını, kömür laylarını və s. Müxtəlif xüsusi mü
qavimətlərə malik olan kəskin düşən süxurların toxunma sərhədlə 
rinin planalınması çökmə-püskürmə və çökmə-metamorfik və s. 
Bundan başqa torpaq qatı altında olan süxurlarda çatların istiqamətini 
və sistemləşməsini öyrənmək üçün planalmadan istifadə olunur. 
downloaded from KitabYurdu.org

---

179 
Bir qidalandırıçı xətdən ibarət olan AMNB qurğusu geniş istifadə 
olunur. Bundan başqa iki qidalandırıcı xətdən ibarət olan qurğudan 
da AA
’
MDNB
’
B istifadə olunur (şəkil 59a,b bax). Bəzi hallarda üç 
qidalandırıçı xətdən istifadə edirlər AA
’
A
’’
MNBB
’
B
’’
, bu da bizə 
imkan verir ki, geoloji kəsilişi üç dərinlikdə öyrənək. Bu isə həmin 
üsulun geoloji informasiyalı olmasını təmin edir. Qurğuların 
ölçulərini təcrübi yolla edirlər. Bu geoloji kəsilişin quruluşu haqda 
tam məlumat əldə edilir. Geoloji kəsiliş haqda məlumat
Şək.
59. Müxtəlif kəsilişlər uzrə iki xətt uzrə qidalanan simmetrik qurğu 
ilə alınan qrafik. a) kristallik süxurun əyilmiş hissəsi uzərində. b) səthə 
yaxın kiçik müqavimətli süxur uzərində; v) filiz yatağı uzərində; q) 
müxtəlif müqavimətli süxurların sərhədi uzərində; 1-qum, 2-konqlemerat, 
3-şistlər, 4-qranitlər, 5-dioritlər, 6-filiz yatağı. 
almadıqda qurğunun qidalandırıcı elektrodları arasında ölçülər nəzəri 
hesablanılır. Təçrubədə müəyyənləşdirilib ki, AB elektrodları
arasındakı məsafə hədəfin fərz olunan dərinliyindən 10-20 dəfə 
aralıda yerləşdirilməlidir (AB"=(10-20)H və qəbuledici elektrodlar 
MM AB-dən 3-10 dəfə az olmalıdır. 
downloaded from KitabYurdu.org

---

180 
Hər müşahidə məntəqəsində MN xətti uzrə 

U ölçulür, AB xətti
üzrə isə cərəyan şiddəti İ ölçülür və xususi müqavimət 

= K

U/İ 
təyin olunur. Qiymətlərinə görə profil boyu fərz olunan müqavimətin 
əyrisi qurulur. Anomaliyanın mənşəyini cox hallarda təyin etmək 
mümküm olmur, çünki oxşar qrafikləri müxtəlif kəsilişlər uzərində 
müşahidə etmək olar (şəkil 59). Anomaliya haqqında tam məlumat 
almaq üçün iki qidalaycı qurğudan istifadə olunur AB A
’
B
’
(AA
’
MN BB
’
). Hər bir nöqtə üçün 

f
-in iki qiyməti təyin olunur, bu 
qiymətlər müxtəlif dərinliklərə uyğundur. 59-cı şəkildən görüunür ki, 

f
-in qrafikində AB elektrodları arasında məsafə artdıqca anomal-
iyanı yaradan səbəb aydınlaşır. 
Şək.
60
Dairəvi profilləmə. 
a– qurğunun nöqtələrdə yerləşdirilməsi; b-

f
–in polyar diaqramı. 
Ellipsin uzun oxu cərəyan xətlərinin maksimum yığıldığı, yəni 
çatların üstünlük təşkil etdiyi istiqaməti, yaxud da süxurun şistliyinin 
üstünlük təşkil etdiyi istiqaməti göstərir.
Kükürdləşmiş süxurlar, 6-filiz 
yataqları. 
Süxurların çatlığının istiqamətinin öyrənilməsi üçün dairəvi 
profilləmə işləri aparırlar. 

f1
A
1
MN B
1 

f2
A
2 
MNB
2
qurğusu ilə
pro 
filin hər məntəqəsində 

f
–in bir yox bir neçə qiymətini təyin
edirlər və s. (Şəkil 60 a). Sonra profildə elektrodları 

f 
-in ölçmə isti-
qamətindən əks istiqamətə keçirərək (Şəkil 60 b) əks (sahə) 
downloaded from KitabYurdu.org

---

181 
qiymətlər alırlar. Əgər anizatropiya yoxdursa, diaqram dairə 
formasında olur, anizatropiya olan ərazilərin üzərində ellipis formalı 
fiqur alınır.