Xələfli A. A

Bir neçə üsulu uyğunlaşdırıb profil alma 
(KEP). Kombinə 
edilmiş profilləmə kəskin duşən yaxşı keçiricilikli xususilə filiz və 
yaxud damar tipli keçiricili cismləri izləmək üçün istifadə edilir 
(şəkil 61a). 
Kombinə edilmiş qurğular vasitəsilə profilləmə iki qarşılıqlı 
simmetrik olmayan üç elektrodlu qurğudan (AMN və BMN), bir 
ümumi qidalandırıçı xətdən S, ibarət mərkəzdən MN-ə 
perpendikulyar istiqamətdə uzaq bir məsafəyə (adətən bu məsafə 10-
15 AO, yəni sonsuzluğa qədər) qədər aparılan qurğudur. MN 
elektrodları arasında olan potensiallar fərqini hər məntəqədə iki dəfə 
ölcürlər: Birinçi ölçmə AS xəttindəki cərəyanı ölçməklə (düz 
istiqəmətli qurğu AMNS), digəri isə BS xəttində olan cərəyanı 
ölçməklə (əks istiqamətli qurğu AMNS). 
Bu imkan verir ki, hər bir məntəqə üçün 

f
–in iki qiymətini 
təyin etməyə imkan verir və profil boyu 

f
–in iki qrafiki qurulur 
(şəkil 61b). Profilləmənin köməyi ilə yüksək müqavimətli 

mühitdə 
yerləşmiş az qalınlığa malik olan kəskin duşən yaxşı keçiriçi xususi 
müqaviməti 

0
olan layın xususiyyətlərinə baxaq. Qurğu anomaliya 
yaradan laydan uzaqlaşdıqda anomaliyanı özündə yerləşdirən 
bircinsli mühitdə 

fAMNS
və 

fAMNS
bərabər olur. Qurğunu laya 
yaxınlaşdırdıqça soldan cərəyan keçiriçi cismlər vasitəsilə S 
elektroduna axmağa başlayaçaq. Belə olan halda əgər cərəyan A 
nöqtəisndən buraxılırsa MN elektrodları yaxınlığında cərəyanın 
sıxlığı artacaqdır. Cərəyan B nöqtəisndən buraxıldıqda isə azalmağa 
başlayacaq. Cərəyan şiddəti nə qədar çox olsa, 

U bir o qədər də
çox olar, eyni zamanda 

f
də bir o qədər çox olur. Beləliklə, laydan 
solda 

fAMNS

fAMNS
sağda isə 

fAMNS
< 

fAMNS 
-dir. Onda qurğunun
mərkəzini layın üstündə yerləşdirmiş olacaq və 

fAMNS
və 

fAMNS
bərabər olaçaq (şəkil 61b,v-yə bax). Ölçmələrdən alınan qiymətlər-
dən qrafik qurmuş olsaq, 

fAMNS
və 

fAMNS
əyrilərinin layın 
downloaded from KitabYurdu.org

---

182 
mərkəzində kəsişdiyini görərik. 

fAMNS
və 

fAMNS
orta hesabı 
qiyməti 

f
-in quymətinə bərabərdir. Bu qiyməti biz simmetrik 
qurğunun köməyi ilə ala bilərik AMN 

f
= (

fAMNS
+

fAMNS
)/2-
nun 

f
simmetrik profilləmə qrafikini kombinə edilmiş profilləmə 
əyrisi ilə birləşdirərək orta əyri çəkməklə almaq olar. 61b şəklindən 
görünür ki, simmetrik qurğu ilə profilləmə də filiz kütləsi üçün 

f
az 
hiss olunan minimum verir, profilləmə isə aydın qrafiklərin kəsişdiyi 
nöqtəni qeyd edir. Əgər keçiriçi kütlə bir neçədrsə, onda qrafiklərin 
kəsişməsi də bir neçə olaçaqdır. Beləliklə, qeyd etmək lazımdır ki; 
filiz kütləsinin dərinlikdə yerləşməsi (şəkil 61v-yə bax) üsulun 
imkanlarını xeyli azaldır.