Şəkil 2-3. Sabit cərəyan rejimi (a) və sabit hündürlük rejimi (b).
Nümunə səthinin hər hansı r
0
nöqtəsində elektronların kva-
zikəsilməz spektr yaxınlaşmasında tunel cərəyanının ifadəsi
aşağıdakı kimi təyin olunur [4]:
(
)
∫
eV
E
r
D
E
r
s
E
dE
V
r
T
0
)
,
0
(
)
,
0
(
)
(
~
,
0
ρ
ρ
(3)
burada D(r
0
,E)-çəpərin şəffaflığı;
)
(E
T
ρ
-zondla əlaqəli hal-
ların sıxlığı;
(
)
E
r
S
,
0
ρ
-r
0
nöqtəsində nümunənin hallarının
sıxlığı. Beləliklə, tunel cərəyanı zond və nümunə hallarının sıx-
lıqlarının spektri kimi təsvir olunur. Spektrdə nümunənin halı
əsas rol oynayır. Aşağı temperaturlarda sadə düzbucaqlı çəpər-
də Fermi səviyyəsi yaxınlığında zondun hallar sıxlığı sabit
qalarsa (3) düsturundan cərəyanın ifadəsini
( )
∫
eV
dE
E
r
s
E
r
I
0
)
,
0
(
~
,
0
ρ
şəklində yazmaq olar.
Bu halda tunel cərəyanının gərginlikdən asılılığı nümunənin
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
45
energetik spektrində hal sıxlığına əsasən təyin olunur.
Təcrübədə
)
,
( 0 E
r
S
ρ
kəmiyyəti tunel cərəyanının gərginliyə
görə törəməsi kimi qiymətləndirilir:
( )
V
I
eV
S
∂
∂
~
ρ
.
İynənin materialının hal sıxlığının xüsusiyyətləri keçiricilik-
də də özünü göstərir. Bəzi hallarda, məsələn, yarımkeçirici-vol-
fram cütü üçün spektrində ən maraqlı xüsusiyyət, yarımkeçi-
ricinin həcm və ya səthin hallarının ~
eV
E
F
2
1
−
=
enerjisinə
yaxın qiymətləri intervalında yerləşir, burada volframın hal
sıxlığı vəziyyəti xüsusi əhəmiyyət kəsb etmir.
Yarımkeçirici nümunələrdə elektronların energetik spektri
mürəkkəb struktura malikdirlər. Yarımkeçirici materialların
spektrində qadağan zonaların və aşqar səviyyələrin olması
metal-yarımkeçirici tunel kontaktının VAX xarakteristikasını
qeyri-xətli edir (səkil 2-4a). Tunel cərəyanına səthin vəziyyət-
ləri və həmçinin səthdə adsorbsiya olunmuş başqa atomlarla
əlaqəli enerji səviyyələri mühüm əlavələr edir. Buna görə də
yarımkeçirici materialların lokal tunel spektrlərinin tədqiqi
yüksək vakuum şəraitində aparılmalıdır.
Tunel
spektrləri keçiricilik zonasının sərhədinin vəziyyətini
və Fermi səviyyəsinə nəzərən valent zonasını təyin etməyə,
həmçinin yarımkeçiricilərin qadağan zonaları daxilində aşqar
spektral piklərini təyin etməyə imkan verir.
Səthin STM-də alınmış şəkilləri tunel kontaktın tətbiq
olunan gərginliyin qiyməti və istiqamətindən asılıdır. Bu elek-
tronların iynədən nümunənin sərbəst hallarına (Free states) və
ya nümunənin dolmuş hallarından (Filled states) iynəyə (şəkil
2-4b) tunelləşməsi xüsusiyyətləri ilə əlaqədardır.
Tunel kontaktında tətbiq olunan gərginliyin müxtəlif
qiymətlərində CD ROM diskinin səthinin STM şəkilləri şəkil 2-
5 də göstərilmişdir.
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
46
Şəkil 2-4. a) Metal-yarımkeçirici tunel kontaktın VAX-nin
sxematik şəkli;
b) elektronların tunelləşməsinin istiqamətinin təsiri.
a)
b)
Şəkil 2-5. Nümunədə səthin 2D və 3D STM şəkilləri: a) 2D; b) 3D.
V-modulyasiya
V-modulyasiya üsulunda sabit gərginlik V
=
həm də tunel
kontaktında kiçik dəyişən V
~
gərginlik tətbiq olunur. Bu zaman
tunel cərəyanının dəyişən hissəsi üçün
)
,
,
,
(
~
~
V
e
E f
y
x
dV
dI
I
=
+
=
ρ
olar.
Bu
zaman
əks əlaqə sabit siqnalda saxlanılır, tunel cərə-
yanın dəyişən hissəsi spektroskopik şəklin alınması zamanı
istifadə olunur. Beləliklə, topoqrafiyanın ölçülməsi (alınması)
ilə lokal hal sıxlığının topoqrafiyasının alınması eyni zamanda
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
47
mümkündür.
Z-modulyasiya
Səthin STM şəkillərini sabit tunel cərəyan rejimində alar-
kən, çıxış işinin variasiyası, ümumiyyətlə, şəkildə təhriflərə gə-
tirib çıxarar. Doğrusu bu təhriflər çox kiçikdir və V gərginliyin
qiymətləri 2
÷ 5eV intervalında dəyişərkən bir neçə anqstrem
tərtibində olar, bunları
)
,
(
γ
ϕ
x
asılılığında nəzərə almaq və eyni
bir təcrübədə ölçmək lazımdır. Bunun üçün iynənin ucu ilə
nümunə arasındakı məsafəni
δ kiçik kəmiyyətinə modulyasiya
edərək
ϕ
δ
δ
m
h
IT
dz
IT
d
IT
I
2
2
~
=
=
kimi təyin olunan tunel
cərəyanın dəyişən komponentini ölçmək lazımdır.
Beləliklə, nəinki topoqrafiyanı ölçmək mümkündür, həm də
nümunə səthinin çıxış işlərinin qiymətləri ilə fərqlənən müx-
təlif tərkibə bölüb ölçmələr aparmaq olar.
STM şəkillərinin keyfiyyətinə təsir edən faktorlar
Skanedici zond mikroskopu səthin bütün X, Y və Z istiqa-
mətlərində böyüdülmüş şəklini almağa imkan verir, həm də hər
bir ox istiqamətində maksimal ayırdetmə qabiliyyəti ayrı-ayrı
faktorlarla təyin olunur.
Z oxu üzrə ayırdetmə, birincisi sensorun həssaslığı və
ikincisi zondun nümunə səthinə nəzərən rəqs amplitudu ilə
məhdudlaşdırılır. Mikroskopun konstruksiyası elə olmalıdır ki,
belə titrəmələrin amplitudunun anqstrem səviyyəsində kiçilmə-
sini təmin etsin.
Nümunə səthinin normalı istiqamətində STM-in ayırdet-
məsi atom ölçülü-hamar səthlər üçün əlverişli hallarda 0,01
anqstremə çatır. Tunel cərəyanın I(z) kəskin asılı olması,
aparatın elektron səsi, tunel cərəyanının nisbi səsi və başqa
buna oxşar təsirlər nəticələrə zəif təsir edirlər. Bəzən çirkli səth
üçün Z koordinatı üzrə səs ciddi artmış olur və mikrometrin
hissələrinə çatmış olur.
X-Y müstəvisində maksimal ayırdetmə ən əvvəl zondun
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
48
dəqiq skanetməsi ilə təyin olunur. Zondun ucunun həndəsi
ölçülərinin quruluşu xüsusi əhəmiyyət kəsb edir. İdeal hamar
müstəvi (atom-müstəvi) səthlərin skanedilməsi ayırdetmə iynə-
nin ucundakı atomun diametri ilə məhdudlaşdırılır (sonuncu
atomun effekti, şəkil 2-6). Beləliklə, yüksək ayırdetməni qiy-
mətləndirmək üçün hesab etmək olar ki, tunelləşdirmə (90%-ə
qədər cərəyan) eyni bir atomda baş verməsini qəbul etmək olar.
Zondun makroskopik həndəsi ölçüləri atom tərtibində ayırd-
etmə üçün həlledici deyildir.
Şəkil 2-6. İynə ucunun nümunə ilə qarşılıqlı təsirinin
sxematik şəkli.
Böyük həndəsi detallarının müqayisəli araşdırılması zamanı
şəklin keyfiyyətcə alınması zondun iynəsinin ucunun itiliyi ilə
müəyyən olunur. Aşağıdakı parametrlər kritik ola bilər: İynənin
ucunun radiusu r və baxış münasibəti
W
L
Ar
/
=
(zondun hün-
dürlüyünün zondun oturacağının diametrinə olan nisbəti şəkil
2-7).
NanoEducator__skanedici_zond_mikroskopunda_işləməyə_başlamazdan_əvvəl_cihazın_istifadəçilərə_rəhbərlik_və_həmçinin_Oscilloscope'>NanoEducator_skanedici_zond_mikroskopun_tunel_cərəyan_çeviricisinin_konstruksiyası__NanoEducator'>NanoEducator skanedici zond mikroskopun tunel cərəyan
çeviricisinin konstruksiyası
NanoEducator cihazında tunel cərəyanının və qarşılıqlı
təsir qüvvəsinin universal çeviricisi istifadə olunur. Çevirici -
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
49
uzunluğu l=7 mm, diametri d=1,2 mm və divarının qalınlığı
h=0,25 mm olan bir tərəfi möhkəm bərkidilmiş pyezokeramik
boru şəklində hazırlanmışdır. Borunun sərbəst ucuna diametri
100 mkm olan volfram naqil bərkidilmişdir. Naqilin sərbəst ucu
zond kimi istifadə olunur, zondun ucunun diametri 0,2-0,05
mkm olub və elektrokimyəvi üsulla itilənmişdir. Borunun daxili
divarlarında gövdəsi ilə birlikdə yerə birləşdirilmiş keçirici
elektrod yerləşir. Zond borunun daxili elektrodları ilə elektrik
kontaktına malikdir. Tunel cərəyanını ölçərkən pyezo-boru sərt
passiv konsol rolunu oynayır. Yerə birləşdirilmiş zonda nəzərən
nümunəyə dəyişən elektrik gərginliyi tətbiq olunur (şəkil 2-8).
Şəkildə təsvir olunan çevrici
T
U
-elektrik gərginliyini yaradaraq
bu tunel cərəyanının yaranmasına səbəb olur və elektron bloka
bu cərəyana mütənasib olan U- gərgin-liyi verir.
skanetmənin istiqaməti
Şəkil 2-7. Baxış münasibətinin və iynə ucunun əyrilik
radiusunun sonlu qiymətlərinin nəticəsində
səthin profilinin şəklinin təhrif olunması.
İki U1 və U2 əməliyyat gücləndiricisi əsasında yığılan
cərəyan-gərginlik çeviricisi elektrik sxemdə (şəkil 2-9) gös-
tərilmişdir. Çeviricinin iş prosesində R1 rezistorunda yerlə-şən
mənfi əks əlaqəyə görə ƏAÇ (ədədi analoq çevricisi) tərəfindən
verilən dayaq gərginlik hesabına 1 nöqtəsindəki potensial 2
nöqtəsindəki potensiala bərabər saxlanılır (bax şəkil 2-9). Tunel
cərəyanı U1 potensialının hesabına yaranır. Cərəyanın keçməsi
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
50
yolu belədir: nümunə-iynənin ucu - «yer»-Rout-R
1
, burada
Rout -U1 əməliyyat gücləndiricisinin çıxış müqavimətidir.
Sxemdən aydındır ki,
I
R
V
V
1
1
3
=
−
Yəni əmələ gələn tunel cərəyanının qiyməti gərginliklərin
V
V
1
3 −
fərqi ilə mütənasibdir.
Şəkil 2-8. Tunel cərəyanının qeydiyyatı prinsipi.
Şəkil 2-9. NanoEducator cihazının cərəyan - gərginlik
çeviricisinin elektrik sxemi.
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
51
U2 əməliyyat gücləndiricisində diferensialların müqavimətləri
gücləndiricidə yerləşir və o, rezistor eyni olduqda
R
R
R
R
6
5
4
3
=
=
=
və
I
R
V
V
V
V
V
=
−
=
−
=
1
1
3
2
3
6
gərgin-
liyini əmələ gətirir.
Beləliklə, cərəyanın gərginliyə çevrilmə əmsalını
R
I
V
K
1
6 =
=
düsturu vasitəsilə hesablamaq olar.
R
2
tənzimləyici rezistoru U
1
gücləndiricisinin çıxışında sıfır
siqnalını almaq üçün istifadə olunur və ya yerin potensialına
nəzərən 3 nöqtəsində dəyişdirilməsi zəruridir. İdeal halda tunel
cərəyanı olmadıqda (zond və nümunə arasında məsafə çox
böyükdür). 3 nöqtəsindəki potensial yerə birləşdirilmiş zonda
nəzərən nümunədəki sürüşmə gərginliyinə bərabərdir. Bu
gərginlik dəyişməsini kompüterlə idarə olunan ƏAÇ verir. Real
halda isə ölçülən dövrədə tunel cərəyanı (10
-10
-10
-11
A) qiymət-
lərinə bərabər cərəyanın itməsi mümkündür. Bu ona gətirib
çıxarır ki, tunel cərəyanı olmadıqda belə 3 nöqtəsindəki
potensial ƏAÇ verilən potensialdan R
1
I (burada I- itən cərəyan)
qiyməti qədər fərqlənəcəkdir. 2 nöqtəsində ölçülən sxemin
çıxışında itən cərəyana mütənasib olan potensial yaranmış olar.
Tunel cərəyanının hesablanmasına itən cərəyanın təsirini ara-
dan qaldırmaq üçün R
2
tənzimləyici müqavimətindən istifadə
olunur. Bunun köməyilə 3 nöqtəsində potensial elə dəyişir ki,
zond və nümunə arasında böyük məsafə aralığında 3 nöq-
təsindəki potensial 2 nöqtəsindəki potensiala bərabər və çıxışda
U
6
gərginliyi sıfıra bərabər olur.
Beləliklə, cərəyan-gərginlik çeviricisinin K-çevirmə əmsalı
I
V
K
6
=
(4)
düsturu ilə təyin olunur.
Ölçülən cərəyanın minimum qiymətinə prinsipial məh-
dudiyyət elektronun yükünün diskretliyi ilə əlaqədar olan
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
52
I
2
=2eI
∆
f fluktasiyalar və istilik küyləri ilə bağlı olan
R
f
kT
I
1
4
2
∆
=
“Naykvist” fluktasiyalar ilə əlaqədardır.
burada e - elektronun yükü, T-temperatur, k - Bolsman sabiti,
∆ f - ölçülən cərəyanın tezlik zolağıdır.
Təcrübədə cərəyan küyünün səviyyəsi, əsasən mexaniki və
akustik küylərin təsirindən zond və nümunə arasındakı
məsafənin təsadüfi dəyişmələri ilə müəyyən olunur.
NanoEducator
skanedici zond mikroskopunda işləməyə
başlamazdan əvvəl cihazın istifadəçilərə rəhbərlik və həmçinin
Oscilloscope
proqramının istifadəçilərə rəhbərlik dərs vəsaitlə-
rini öyrənmək zəruridir.
Cihaz 220V gərginlikdə işləyir. NanoEducator skanedici
zond mikroskopunun istismarı 220V qədər gərginlik tələb edən
elektrik qurğularının TİG və TTG-ə uyğun aparılır.
2.3. Metodik göstərişlər
NanoEducator
skanedici zond mikroskopunda işləməyə
başlamazdan əvvəl cihazın istifadəçilərə rəhbərlik sənədini
öyrənmək zəruridir.
2.4. Tapşırıq
1. Cərəyan-gərginlik çeviricisinin (CGÇ) K-çevirici əmsalının
ölçülməsi
1) NanoEducator cihazının (şəkil 2-10) ölçü başlığının yuva-
sındakı qarşılıqlı təsir çeviricisinin əvəzinə etalon rezistoru
saxlayıcıya yerləşdirməli. Yüksək müqavimətli etalon re-
zistordan keçən cərəyan tunel cərəyanını imitasiya edir.
Etalon rezistor pyezoboru əvəzinə qarşılıqlı təsir çeviricisi
altlığına bərkidilir. Rezistorun ucu yerlə birləş-dirilir, ikinci
tərəfi sürüşmə gərginliyinə qoşmaq üçün nəzərdə tutulub və
buna görə onu altlığa birləşdirmək zəruridir.
2) Qabaqcadan korpus üzərində göstərilmiş nominal rezistora
baxmaq və ya meqometrin köməyilə etalon rezistorun
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
53
müqavimətini ölçmək. Rezistorun ayaqlarını elə əymək la-
zımdır ki, altlığın aralığına pinset vasitəsilə yerləşdirmək
mümkün olsun.
3) Rezistoru qoyarkən diqqətli olmaq lazımdır. Çünki altlığa
əlavə təzyiq skanedicinin sıradan çıxmasına səbəb ola bilər.
Şəkil 2-10. Etalon rezistorun qoşulma sxemi/
4) NanoEducator proqramının idarəetmə panelində T
düyməsini sıxaraq tunel mikroskopu rejimini işə salmaq.
5) Landing menyusuna daxil olmaq üçün cihazın panelindəki
düyməsini sıxmalı. Bias voltage gərginliyin
mv
V
100
~
qiymətini daxil etməli. Keçən cərəyanın qiy-
mətini I=V/R düsturu ilə hesablamalı (burada R-etalon
rezistorun müqavimətidir), Landing pəncərəsində ( Tunel
current
) tunel cərəyanın qiymət göstəricisindəki rezistor-
dan keçən tunel cərəyanın real qiymətinə baxmaq olar. On-
ların müxtəlifliyi halında mümkün səbəblərini izah etməyə
çalışın.
6) Cihazın panelində
düyməsini sıxaraq virtual
osilloqrafı işlətmək və ya NanoEducator olan qovluqdan
oscilloscope.exe
faylını işlətməklə osilloqrafın hər hansı
bir kanalından ADC-Current-mV siqnalı dəqiqləşdirməli.
7) CGÇ-nin çıxışında gərginliyin qiymətini virtual osilloqrafa
görə təyin etməli. (4) düsturunun köməyilə çevirici əmsalı
hesablamalı.
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
54
2. Maksimal ölçülən cərəyanın təyini
1) Bu məqsədlə Volt-Amper xarakteristikasını almaq lazımdır
(Rezistordan keçən cərəyanın tətbiq olunan gərginlikdən
asılılığını təyin etmək)– Spectrescopy I(v). Bu proseduraya
keçmək üçün Landing pəncərəsində Cancel düyməsini
sıxaraq və Scanning menyusuna daxil olub cihazın pa-
nelində
düyməsini sıxmaq (proqram zond -
nümunə qarşılıqlı təsirinin olmadığı haqqında qabaqcadan
məlumat verir, yəni yaxınlaşma baş verməyib) lazımdır.
Qabaqcadan 5 xətdən az olmayaraq skanetməni aparmaq,
skanetmə sona çatdırdıqdan sonra alınmış formanı bağ-
lamaq (bu işdə lazım deyil) lazımdır.
2) Spectroscopy prosedurasına keçib Scanning pəncərəsində
yuxarı sahədə uyğun düyməni seçməklə Scanning pəncə-
rəsində sağ yuxarı hissəsinə kursoru qoyub mausu sıxmaq,
nöqtələri proqrama göstərib Volt-Amper xarakte-ristikasını
almalı. İki nöqtə seçin.
3) RUN düyməsini sıxmalı. Bu zaman Spectroscopy rejiminin
idarəedici pəncərəsi açılacaqdır. Volt-Amper xarakteristi-
kanı almaq üçün gərginliyin başlanğıc və son qiymətlərini
daxil etmək: Start V Final V (-5000 mv, 5000 mv) bir
qrafikdə ölçmə nöqtələrin sayını - Points (məsələn, 200) və
Graphycs
(məsələn, 5) bir fəza nöqtəsində qrafiklərin sayı,
ölçmələrdə nöqtələrarası Delay(1ms) dayanmaların olduğu
kimi saxlamalı.
4) Spektroskopiya idarəetmə pəncərəsindəki RUN düyməsini
sıxmalı. Gərginliyin hər bir 10mV qiymətindən bir olmaqla
200 nöqtədə etalon rezistorundan keçən tunel cərəyanının
ölçülməsi baş verir. Proqram I(V) asılılığının qrafikini qu-
rur. Alınan qrafik birbaşa Om qanununu təsvir edir. Hər iki
nöqtədə ölçülmüş qiymətlər qrafiklərdə üst-üstə düşür.
Bunlardan birini saxlayaraq hesabatda verməli.
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
55
5)
Düzgün nizamlanmış aparatla və elektrik itkisinin
olmadığına görə qrafik koordinat başlanğıcından keçəcək-
dir. Bu gərginlik olmadıqda rezistordan keçən cərəyanın
sıfıra bərabər olduğunu göstərir.
6)
Alınmış qrafikdə məhdud ölçmə sxemi qalıbsa orada üfüqi
sahələr olacaqdır. Qrafikə görə cihaz tərəfindən ölçülən
maksimal cərəyanı təyin edin.
3. Cihazda ölçülən minimal cərəyanı təyin edin.
1) Altlıqdan etalon rezistoru ayırın. Ölçən başlıqda etalon rezis-
toru saxlayıcı ilə birlikdə çıxarın. Ölçən başlığın qapağını
bağlamaq lazımdır ki, elektrik təsirlər olmasın. Bu zaman
CGÇ itən cərəyanı ölçəcəkdir.
2)
Ossilloqrafın kanallarından birində ADC-Current siqnalını
verməli. Şaquli istiqamətdə ossiloqrafın maştabını artır-
maqla səs izlərinin yaranmasına nail olmalı. Səs izlərinin
alınması pəncərəsini hesabatda təsvir etmək üçün saxla-
malı.
3) ADC-Current güclü səs izləri siqnalının Amplitud miqya-
sında ölçülən cərəyanın minimal qiymətinin təyini. Ölçülən
“Nanotexnologiyadan laboratoriya işləri”. Dərs vəsaiti
56
cərəyanın minimal qiyməti aparatın səsinin qiyməti ilə təyin
edilir.
4. Sabit tunel cərəyanı rejimində səthin topoqrafiyasının alın-
ması.
1) Tədqiq olunan nümunəni altlıqda yerləşdirmək.
2) NanoEducator cihazın ölçən başlığın yuvasına zond çevi-
ricini yerləşdirmək.
3) Cihazın NanoEducator idarəetmə proqramını işə salmaq.
SQM Skanedici qüvvə mikroskopu rejimini seçmək. Açıq
şəraitdə işləyərkən qarşılıqlı təsirin alınması üçün
NanoEducator
cihazında qarşılıqlı təsir qüvvə rejimini
seçmək yaxşı olardı. Bu ehtiyatlılıq əlaqə zamanı zondu
zədələməmək üçün zəruridir, yəni STM - də tədqiq olunan
nümunə havada qismən turşulaşır.
4) Zond çeviricinin amplitud-tezlik xarakteristikasını təyin
etməli və işçi tezliyini daxil etməli.
5) Zondun nümunə ilə yaxınlaşmasını 1mm məsafəyə əllə
işləyən gətirmə burğunun köməyilə yerinə yetirməli.
6) SQM rejimində qarşılıqlı təsirin alınmasını yerinə yetirməli.
7) Landing pəncərəsinin bağlamalı. Tunel mikroskopu reji-
minə NanoEducator proqramının idarəetmə panelində T
sıxmaqla keçmək.
8) Landinq düyməsini sıxın. Tunel mikroskopu rejimində
qarşılıqlı təsirin alınmasını aşağıdakı parametrlər əsasında
həyata keçirməli (əgər bir rejimdən digər rejimə keçərkən
qarşılıqlı təsir itibsə)
Set point
0,5 nA;
Inteqrator delay (Options menyusunda) 1000 ms;
Feed Back Loop Gain
3;
Bias Voltage
0,2 V.
9) Skanetmə pəncərəsini açmalı. Nümunə haqqında qabaqcadan
verilmiş məlumatlar əsasında skanetmənin zəruri parametr-
lərini verməli. Sabit tunel cərəyan rejimində səthin topoqra-
fiyasını ölçməyə başlamalı.
Skanedici tunel mikroskopu vasitəsilə bərk cisim səthinin tədqiqi
57
10) Əgər alınmış şəkildə skanetmənin təhrifi varsa (tunel kon-
taktın qeyri-dayanaqlığı hesabına əks əlaqədən kənarlaşma
əmələ gəlir, qonşu xətlər skanetmədə təkrar olunmur) skan-
edicini saxlayın və kontaktın alınması üçün aşağıdakı para-
metrlərin qiymətlərini dəyişməklə kontaktı stabilləşdirməyə
çalışın.
Dostları ilə paylaş: |