1 O‘zbekiston respublikasi oliy va o‘rta maxsus ta’lim vazirligi

Yuza g‘adir-budirligini o‘lchash asbob-uskunalari va usullari.
Yuza 
g‘adir-budirligini baholashda sifat va miqdor o‘lchash usullari qo‘llanilishi 
mumkin. Sifat usuli ishlov berilgan yuzani g‘adir - budirlik namunalari bilan 
taqqoslashga asoslangan. Miqdor usul esa mikro notekisliklarni mahsus asboblar 
yordamida o‘lchashga asoslangan. 

---

56 
Yuza g‘adir-budirligini standart namunalar orqali aniqlash ancha sodda 
bo‘lib u amaliyotda keng qo‘llaniladi. Bunday tekshirishda ishlov berilgan 
yuzaning g‘adir-budirligini; xuddi shunday materialdan tayyorlangan va ishlov 
berilgan namuna bilan taqqoslanadi. Тaqqoslash qurollanmagan ko‘z bilan, yoki 
sezish orqali, tirnoqlarni izlarga ko‘ndalang yurgizgan holda olib boriladi. Bu usul 
g‘adir-budirlik R
a
=5...0,63 oralig‘ida bo‘lsa, ishonchli natija beradi. 
Bunday yuqori tozalikka ega bo‘lgan yuzalar (R
a
=0,32…0,08) g‘adir-
budirligini mahsus mikroskoplar yordamida, etalonlar bilan solishtirilib aniqlanadi. 
G‘adir-budirlikni miqdoriy o‘lchash usullari mahsus asboblarni qo‘llashni 
taqozo etadi. Detal yuzalarining g‘adir-budirligi kontaktsiz va kontaktli usullar 
orqali aniqlanadi. 
G‘adir-budirlikni kontaktsiz usulda aniqlashda yorug‘lik kesimi, soya 
proyeksiyasi va yorug‘lik interferensiyasi asboblari keng qo‘llaniladi. Bu usul 
yuzalar g‘adir-budirligini Rz=0,63 mkm gacha mikrointerferometrlar (MII-4, MII-
5, MII-10, MII-12) bu esa Rz=0,8...0,03mkm oraligida o‘lchash imkonini beradi. 
G‘adir-budirlikni aniqlashda shupli asboblar keng qo‘llaniladi. Kontakt-
shupli asboblar tekshiriladigan yuzani olmos igna yordamida, uni yuza bo‘yicha 
yurgizib paypaslab aniqlanadi. Bu asbob-uskunalar guruhiga profilometrlar va 
prfilograflar kiradi. Profilometrlar yuza profilining og‘ishining o‘rtacha arifmetik 
qiymatini ko‘rsatsa, profilograflar yuza profilini ko‘rsatadi. Profilometr va 
profilograflarni olmos ignasi qirrasi dumoloqlangan konus shakliga ega. Igna 
uchining dumoloqlik radiusi 10±2mkm, yuqori aniqlikka ega bo‘lgan profilograflar 
uchun r=2
+2 
aniqlikdagi ignalar qo‘llaniladi. Profilometr yordamida R
a
= 5...0,05 
mkm oralig‘idagi g‘adir-budirliklarni o‘lchash mumkin