E lastik deformasiya nəticəsində paralel üzlü şəffaf lövhəyə linzanın bir nöqtəsi əvəzinə müəyyən sonlu sahəsi toxunduğundan (3) düsturu ilə aparılan hesablamalar tam dəqiq nəticə vermir. Odur ki, müxtəlif radiuslu zolaqların göstəricilərinin kombinasiyasından istifadə etmək lazımdır. (3) düsturunu m-ci konsentrik çevrə üçün də yazsaq
(4)
alarıq. m>n olduğunu qəbul edib (4)-dən (3)-ü tərəf-tərəfə çıxsaq,
buradan da
və ya (5)
olar.
(5) düsturundan istifadə edərək işığın dalğa uzunluğunu və ya məlum dalğa uzunluğuna əsasən linzanın əyrilik radiusunu tapmaq olar.
Bu məqsədlə laboratoriyada istifadə olunan cihazın prinsipial sxemi şəkil 3-də verilmişdir.
Cihaz əsasən C-mikrometrindən, O- okulyarından, K – yarımşəffaf güzgüdən, S-qırmızı monoxromatik işıq mənbəyindən və H-Nyuton qurğusundan ibarətdir. S - mənbəyindən çıxan şüalar K- yarımşəffaf güzgüsü üzərinə, oradan da H-qabarıq tərəfi müstəvi şüşə lövhə üzərində olan müstəvi qabarıq linza üzərinə düşür. Nəticədə yuxarıda qeyd etdiyimiz kimi konsentrik çevrələr şəklində interferensiya həlqələri alınır ki, bunu da O-okulyarından baxan müşahidəçi aydın görür. C- mikrometri vasitəsilə istər qaranlıq (minimum), istərsə də işıqlı (maksimum) həlqələrin hər birinin radiusunu ölçmək mümkündür.
İşin gedişi.
Proyektoru elə yerləşdirin ki, monoxromatik (qırmızı) işıq şüaları K – yarımşəffaf güzgüsü üzərinə mümkün qədər kiçik bucaq altında düşsün.
Qurğunun kənarlarındakı vintlər vasitəsilə alınan qaranlıq və işıqlı zolaqların çevrə şəklində almasına nail olun.
Lupadan istifadə edərək m-ci və n-ci qaranlıq və ya işıqlı zonalara uyğun gələr rm və rn radiuslarının qiymətlərini mm-lə qeyd edin. Müstəvi qabarıq linzanın əyrilik radiusu R-in məlum qiyməinə görə (5)-düsturuna əsasən işığın dalğa uzunluğunu hesablayın.
Təcrübəni 4-5 dəfə təkrar etməklə təcrübənin mütləq və nisbi xətasını hesablayın.