Јурилиш материаллари ва конструкциялрини тадіиі этиш ва

3.21-
rasm. Turli xildagi tеnzorеzistorlarning sxеmalari:
a–qog‘ozli asosdagi simli sirtmoqli; 
b–zarg‘oqozli sirtmoqli; v–zarqog‘ozli qisqa bazali; g–murakkab konfiguratsiyali zarqog‘ozli 
mеmbranali; 1–asosi; 2–konstantan sim; 3–qog‘oz tasmasi; 4–chiqishlar; 5–zarqog‘oz. 
Shu bilan birga tenzorezistorlar bir qator kamchiliklarga ega: elektr sezgirligi 
yetarlicha yuqori emas, bu murakkab qayd qiluvchi apparaturani qo‘llanish 
zarurligini shart qiladi; kichik bazada (< 20 mm) sezgirligi, pastligi; yelimning 
yumshoqligi tufayli deformatsiyaning o‘lchangan va haqiqiy qiymatlari orasida 
ma’lum nomuvofiqlik (tenzorezistor yordamida o‘lchangan deformatsiyaning 
kattaligi, odatda haqiqiy kattaligidan biroz kichik); tenzorezistorlarning ko‘rsatishiga 
ta’sir etuvchi atrof muhit temperaturasiga sezgirligi, bu kompensatsion datchiklarning 
qo‘llanilishi zaruratini keltirib chiqaradi; har bir tenzorezistorni faqat bir marta 
foydalanish mumkinligi. 
Tenzorezistor mahkamlangan (yelimlangan) sinalayotgan konstruksiyada 
qo‘yilgan kuchlar ta’sirida yuzaga keladigan deformatsiyalar uning omik qarshiligini 
proporsional ravishda o‘zgartiradi. Deformatsiya jarayonida tenzorezistorda simining 
uzunligi va ko‘ndalang kesimni yuzi o‘zgaradi, bu esa tenzorezistor qarshiligining 
o‘zgarishiga olib keladi. Bu bog‘lanish quyidagi formulalar bilan ifodalanadi: 
ε
ε
∆
∆
∆
=
=
=
∆
;
;
Rl
l
R
K
K
R l
l
R
bu yerda: 
Δ
R
/
R
— tenzorezistorning omik qarshiligining nisbiy o‘zgarishi; 
R
— tenzorezistorning boshlang‘ich qarshiligi, Om; 

---

124 
Δ
R 
— tenzorezistorning deformatsiyada boshlang‘ich qarshiligining o‘zgrishi 
kattaligi, Om; 
l
— tenzorezistor uzunligi yoki bazasi: mm; 
K 
— tenzorezistorning sezgirlik koeffitsiyenti (tenzorezistorning omik 
qarshiligining nisbiy o‘zgarishi 
Δ
R
/
R 
ni nisbiy deformatsiya (
Δ) ga nisbati bilan 
aniqlanadigan kattalik;
Δ
l 
— tenzorezistor deformatsiyasi kattaligi bo‘lib, tekshirilayotgan 
elementning deformatsiyasiga teng, mm. 
Shunday qilib, tenzorezistorning asosiy tavsiflari quyidagilardir: qarshilik 
R
, 
baza 
l
va sezgirlik koeffitsiyenti 
K
. 
Tenzorezistorlar 5; 10; 20; 30; 50; 80; 100; 200 mm baza bilan tayyorlanadi. 
Qo‘lanilayotgan tenzorezistorlar bazasini tajribaning tavsifi va vazifalariga bog‘liq 
holda hamda konstruksiya tayyorlangan materialning bir jinsliligini hisobga olgan 
holda tanlab olinadi. 
Qurilish konstruksiyalarini sinashda asosan quyidagi tenzorezistorlardan 
foydalaniladi: betondagi deformatsiyalarni o‘lchash uchun - 50; 80; 100 mm baza 
bilan, armaturadagi va metalldan tayyorlangan qurilgan detallardagi 
deformatsiyamerni o‘lchash uchun — 10; 20; 30 mm baza bilan. 
Statik sinovlarda qo‘llaniladigan tenzorezistorlarning qarshiligi 50 dan 400 Om 
gachani tashkil etadi. Tenzorezistorlar qarshiligining tarqoqligi portiyada 1 0 m dan 
oshmasligi kerak. Avval aytib o‘tilganidek, tenzorezistorning juda muhim parametri 
uning tenzosezgirligi hisoblanadi, u panjaraning materialiga va konstruksiyasiga, 
qo‘llanilayotgan yelimining asosiga, shuningdek, tenzorezistorni tayyorlash usuliga 
va yelimlanishiga bog‘liq. Tenzorezistorning sezgirligi koeffitsiyenti 2,0 dan 2,3 
gacha oraliqda bo‘ladi. Konstantadan tayyorlangan tenzorezistorlar panjara materiali 
ishi bosqichiga bog‘liq bo‘lmagan (elastik yoki elastik emas), amalda doimiy 
tenzosezgirlikka ega. Shuning uchun omik qarshilikli tenzorezistorlar uchun asosan 
konstantan simdan foydalaniladi. Simli tenzorezistorlar sinalayotganda elementning 
bir o‘qli va tekis zo‘riqgan holatidagi deformatsiyalarni aniqlashga imkon beradi. 
Agar bosh deformatsiyalarning yo‘nalishlari ma’lum bo‘lsa, u holda 
tenzorezistorlarni ta’sir qiluvchi kuchlanishlarning yo‘nalishi bo‘yicha o‘rnatiladi; 
agar yo‘nalishlari noma’lum bo‘lsa, u holda to‘g‘ri burchakli yoki uchburchakli 
rozetka sxemasi bo‘yicha bir necha tenzorezistor qo‘llaniladi.

---

125 
Hozirgi vaqtda ko‘p marta foydalanish uchun mo‘ljallangn olinuvchi 
termokompensatsiyalngan tenzorezistorlar ham ishlab chiqilmoqda. 
Tenzorezistorlarni beton sirtiga o‘rnatishda yelimlanadigan joyi chang, bo‘yoq 
va shu kabilardan tozalanadi, keyin beton sirti korborundli brusoklar bilan tozalanadi. 
Gipsli qorishma bilan chuqur rakovinalar to‘ldiriladi. Tozalangn sirt atseton bilan 
artiladi, keyin texnik spirt bilan artiladi, shundan so‘ng betonning tashqi qatlamini 
singdirish va mustahkamlash hamda g‘adir-budurliklarni tekislash maqsadida sirtni 
2–3 qatlam yelim bilan gruntlanadi. 
Tenzorezistorlarni sinalayotgan konstruksiyalarning metall qismlariga va 
armaturalarni yelimlashda bu joylar karborund brusoklar yoki disklar bilan zang, 
kuyindi, bo‘yoq va sh.k.lardan tozalanadi. Tozalangan sirt atseton bilan, keyin esa 
spirt bilan artiladi. Tenzorezistorni yelimlashda yelim qatlami qalin bo‘lmasligi 
kerak, aksincha yelim maxsus valik bilan sellofan plenka orqali o‘q bo‘yicha 
o‘rtasidan chetiga qarab bir tekis silab, valik bilan yo‘qotiladi. 
Tenzorezistorlarni tayyorlash va yelimlash uchun qo‘llaniladigan yelimlar 
tenzopanjaraga va tekshirilayotgan materialga nisbatan yuqori adgezilga, ko‘chishda 
yuqori bikrlikka, barqaror va yuqori dielektrik xossalarga, texnologik qo‘llanishdagi 
termogidromustahkamlikka ega bo‘lishi kerak. 
Tenzometrik qayd etuvchi apparatura.
Sinovlarda o‘lchanadigan 
deformatsiyalarning kattaligi tekshirilayotgan konstruksiyaning materiliga, sinash 
xarakteriga bog‘liq va ko‘p hollarda 
1Ѕ10-6 dan 1Ѕ10-3 nisbiy birliklardan tashqariga 
chiqmaydi. Shunchalik kichik deformatsiyalarni o‘lchash, odatda, elektron 
kuchaytirgichli sezgirligi yuqori qayd etuvchi apparaturaning qo‘llanilishini talab 
etadi. Statik sinovlarda dastaki balansirovkali bir qavatli ko‘prikka ega ID (ISD-2, 
IMASH, ISD-3, ID-62) turidagi deformatsiyalarni elektron o‘lchagichlar; ko‘prigi 
avtomatik balansirovkali AI yoki AID (AI-1, AI-2, AID-1, AID-2, AID-2M) turidagi 
elektron deformatsiya o‘lchagichlari amaliyotda qo‘llanilmoqda. Tenzometrik qayd 
etuvchi appraturaning tavsiflari 3.1-jadvalda keltirilgan. Tenzorezistorlarning 
ko‘rsatishlarini avtomatik yozib oluvchi asboblar qatoriga EPP-00 elektron 
potensiometrdan yoki EMP-209 asbobidan qayta jihozlangan deformatsiyalarni 
avtomatik qayd etuvchisi AR-1 kiradi. AR-1 asbobi bir vaqtda 24 nuqtadagi 
deformatsiyalarni o‘lchash va qoQoz tasmaga qayd etishni ta’minlaydi.

---

126