Avtomatlashtirish va boshqarish

Nazorat uchun savollar
1 Potensiometrik usul nimaga asoslangan?
2. Texnologik jarayonlarda nimalar ko‘pincha, rN ning qiymati bo‘yicha o‘lchanadi?
3. Nazorat qilinayotgan eritmaning harorati o‘zgarganida shisha elektrodning elektrod kaysi parametri o‘zgaradi?
4. rN- metrning komplekti rN-201 nima uchun mo‘ljallangan?
Ma'ruza №26.
Tahlilning dielkometrik usuli. Suyuqliklarni tahlil qilishning optik usullari.


Reja:

1. Tahlilning dielkometrik usuli.

   
   

2. Suyuqliklarni tahlil qilishning optik usullari.

   
   

Dielkometrik usul kapillar-g'ovak jismlar namligining o'zgarishi ularning dielektrik singdiruvchanligi ni o'zgartirib yuborishiga asoslangan. Quruq jismlarda dielektrik singdiruvchanlik £ = 1 ...6, suvniki esa £ = 81. Materialning namligi o'zgarishi natijasida dielektrik singdiruvchanlikning o'zgarishini, odatda, qoplamlari orasiga tahlil qilinayotgan material joylashtirilgan kondensator sig'imining o'zgarishi bo'yicha aniqlanadi. Dielkometrik namlik o'lchagichning o'zgartkichi ikkita yassi plastina yoki ikkita konsentrik silindrlar tarzida yasalib, ularning orasi tahlil qilinayotgan material bilan to'ldiriladi. Geometrik o'lchamlari ma’lum kondensatorning sig'imini quyidagi tenglama bilan ifodalash mumkin:

C=K-e , (26,1)
bu yerda: К — kondensatorning geometrik o'lchamlari va shakliga qarab aniq­lanadigan doimiy; £ — materialning namligi bo'yicha aniqlanadigan dielektrik singdiruvchanlik.

Sig'imli o'zgartkichining yuqori chastotali tebranish konturiga ulanishi o'zgartkichning sig'imini va unga qarab materialning namligini o'lchash uchun lampada yoki yarimo'tkazgichli asboblarning rezonansli sxemalaridan foydalanishga imkon beradi. Sig'imli o'zgartkichlar materialning tarkibi, uning tuzilishi hamda elektrod bilan material o'rtasidagi kontakt qarshilikka kam sezgir. Chunki ko'pchilik materiallarning dielektrik singdiruvchanligi haroratga bog'liq bo'ladi, sanoat asboblarida haroratning o'zgarishiga tuzatmani avtomatik kiritish ko'zda tutiladi. Sig'imli namlik o'lchagichlarning xatoligi 0,2...0,5 % ni tashkil etishi mumkin. Biroq namuna olish usuli (kondensator qoplamlari orasini material bilan to‘ldirish) o‘lchash natijalariga ta’sir qilishi mumkin. Masalan, hatto tahlil qilinayotgan material zarrachalarining o‘zgarishi namlik o'lchagichning ko‘rsatishiga juda katta ta’sir qiladi. Shu sababli qattiq va sochiluvchan moddalarning namligini o'lchaydigan sig'imli namlik o'lchagichlar texnik o'lchashlarda kamroq qo'llaniladi.

Qattiq sochiluvchan, shuningdek, tolali materiallar namligini o'lchash­ning murakkabligi shundaki, datchik material bilan o'zaro ta’sirlashganida uning strukturasi, to'kilma zichligi va boshqa omillar o'zgarishi va ular asbob xatoligini juda ko'paytirib yuborishi mumkin. Shuning uchun sanoatda, asosan, kontaktsiz o'lchash usullari qo'llanilgan: o'ta yuqori chastotali va optik usullar.
O'ta yuqori chastotali (O'YCH) namlik o'lchagichlarda suv va quruq moddaning elektr xossalari ancha (o'nlab marta) farq qilishidan foydalaniladi. Namlik qiymati tahlil qilinayotgan material qatlamidan o'tayotgan o‘ta yuqori chastotali nurlanishlarning susayishiga qarab o'l­chanadi.
O'ta yuqori chastotali (O'YCH) usul ultraqisqa santimetrli radio- to'lqinlar sohasida (3000... 10000 MHz) materiallarning elektr xususi- yatlari ulardagi namlikka bog'liq ekanligiga asoslangan. O'YCH namlik o'lchagichlarning tuzilish sxemasi 26,1- rasmda tasvirlangan.
Tekshirilayotgan material 3 O'YCH generator 1 dan ta’minlanuvchi uzatuvchi antenna 2 va qabul qiluvchi antenna 4 orasidan o'tadi. Qabul qiluvchi antennada O'YCH li nurlanishning zaiflashgan signalini qabul qiluvchi detektor 5 joylashgan. Kuchaytirgich 6 orqali kuchaytirilgan bu signal o'lchash asbobi 7 ga keladi.
O'YCH li usul kontaktsiz va inersiyasiz bo'lib, mavjud elektrolitlarga va boshqa elektr usullarga ko'ra materialdagi namlikning notekis tarqalishiga unchalik sezgir emas.
O'YCH li namlik o'lchagichlarning asosiy kamchiligi asbob shaklla- nishining murakkabligidir. Bundan tashqari, bu asboblar nazorat qili­nayotgan materialning doimiy zichlik darajasining yoki zichligi haqidagi ma’lumotni talab qiladi.
26,1- rasm. O'ta yuqori chastotali namlik o'lchagich sxemasi.
O'YCH li namlik o'lchagichlar 0... 100 % li keng chegarada namlikni yuqori aniqlik bilan o'lchashga imkon beradi.

Optik namlik o'lchagichlarda moddaning namligi bilan undan qaytgan nurlanishning orasidagi bog'lanishdan foydalaniladi. Eng katta sezgirlik hosil qilish uchun spektrning infra­qizil sohasidagi nurlanishdan foydalaniladi. Uni manba 1 hosil qiladi (6.54-rasm). Tahlil qilinayotgan material 2 dan qaytgan yorug'lik oqimi to'plash qurilmasi 3 yordamida qabul qilgich 4 ga yuboriladi. Materialning namligi qancha katta bo'lsa, u infraqizil nurlarni shuncha yaxshi yutadi va qaytgan oqim miqdori shuncha kam bo'ladi.

Bu usul bilan faqat yupqa qatlamning (5 ... 30 mm) namliginigina o'lchash mumkin bo'lganligidan namlik o'lchagichdan, odatda, konveyer lentalarida tashilayotgan sochiluvchan materiallar uchun foydalaniladi. „Bereg" turidagi optik namlik o'lchagichlar namligi 80 % gacha bo'lgan materiallarni tahlil qilishga imkon beradi.