Јурилиш материаллари ва конструкциялрини тадіиі этиш ва
Lokal rentgenstruktura tahlili
Yüklə 24,39 Mb. Pdf görüntüsü
|
|
1.5.5. Lokal rentgenstruktura tahlili
Rentgen nurlanishidan foydalanishda tasvirni qurish uchun rastrli elektron mikroskopiyani (REM) qo‘llash keng tarqalgandir. Lokal rentgenspektral tahlil usuli tez elektronlarning ingichka fokuslangan tarami ob’yekt yuzasiga yo‘naltiriladi va ushbu nuqtada joylashgan elementlarning rentgen spektrini qo‘zg‘atadi. Yuzaga kelgan rentgen nurlanish to‘lqinlarning uzunliklari va ularning jadalligi bo‘yicha bitta yoki bir qancha spektrometrlar yordamida tahlil qilinadi va bu elektronlar tarami tushadigan joyda materialning sifatli va miqdoriy tahlilini amalga oshirish imkonini beradi. Materialning tekshirilayotgan namunasi yassi va tekis shlifni hosil qilguncha silliqlanadi va yaltiratiladi. Tahlilda qalinligi bir necha mikron bo‘lgan namunaning yuza qatlamida qo‘zg‘atilgan rentgen nurlanish tekshirilishi oqibatida yuzaning sifati yuqori darajada bo‘lishi kerak. Notekis yuza holatida elektron taramning kesmasi va nuqtadan nuqtagacha harakterli rentgen nurlanishining chiqish burchagi o‘zgaradi, bu tajriba natijalarining buzilishiga olib keladi. Yaltiratilgan shlif sifati mikroskop ostida tekshiriladi. Klinker va boshqa boglovchi materiallar dielektrik bo‘lganligi sababli, ular shliflarining yuzalarida elektronlar manfiy zaradlarni yaratadilar, buning natijasida yuzaga tushayotgan elektron taram yuza bo‘ylab betartib harakat qiladi, bu tahlilning o‘tkazilishini qiyinlashtiradi. Shuning uchun, yaltiratilgan shlif yuzasiga vakuumda qalinligi 50- 100 Å bo‘lgan xrom qatlami changlatiladi, u yuzaki zaradning to‘planishining oldini oladi, ammo shu bilan birga namuna yuzasiga elektron zondning kira olishini qiyinlashtirmaydi. Miqdoriy kimyoviy tahlilni o‘tkazish uchun tekshirilayotgan ko‘p komponentli namuna va toza elementdan iborat bo‘lgan etalonda aynan bir xil sharoitlarda ushbu elementning rentgen o‘qiga xos chizig‘ining jadalligi o‘lchanadi. Bu chiziqlar jadalliklari nisbati materialdagi elementning miqdori to‘g‘risida taqribiy ma’lumotlar beradi. Ma’lumotlarning aniqligini oshirish uchun olingan natijalarga toza etalonga nisbatan ko‘p komponentli namunadagi element mavjudligining alohida sharoitlarini hisobga oluvchi majburiy tuzatishlarni kiritish zarur. Bu tahlil qilinayotgan namuna va etalondagi rentgen nurlanishning yutilishidagi farqni, aniqlanayotgan elementning namunada boshqa elementlarning o‘ziga xos (harakterli) nurlanishi orqali qo‘shimcha qo‘zg‘alishini va sh.k.ni tashkil etadi. 57 O, Si, Al, Mg kabi elementlar tomonidan rentgen nurlarining yutilishi koeffitsiyentlari kattaliklari to‘g‘risida aniq ma’lumotlarning yo‘qligi materiallarda ularning miqdoriy tarkibini katta aniqlik bilan aniqlash imkoniyatini bermaydi. Yüklə 24,39 Mb. Dostları ilə paylaş:
|